一种检测探针调试系统及方法与流程

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1.本技术属于显示面板测试领域，尤其涉及一种检测探针调试系统及方法。

背景技术：

2.阵列测试设备中，探针台(prober)单元起到了承载并导通信号的作用，探针台单元中通常包括多个探针盘(block)，可以用于对显示面板性能进行测试。在探针盘老化、损毁或测试异常的情况下，需要进行探针盘的更换与调试。
3.相关方案中，调试人员通过目测方式观察探针盘与面板(panel)之间的连接状况，并进行探针盘位置及角度的调整，以实现对探针盘的更换与调试。
4.然而，在此种调试方式下，调试人员调试受到的目测主观影响较大，容易造成较大调试误差，进而导致阵列测试设备测试异常的解决效率及稳定性不高，面板测试良率较低。

技术实现要素：

5.本技术实施例提供一种检测探针调试系统及方法，能够有效提升检测探针位置调试的精确度，进而能够提升设备异常解决效率及稳定性，提高相关产品的测试良率。
6.第一方面，本技术实施例提供一种检测探针调试系统，该检测探针调试系统包括：
7.第一采集模块，用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，并生成第一信号，第一信号用于表征微观连接状态；
8.第二采集模块，用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态，并生成第二信号，第二信号用于表征宏观连接状态；
9.图像处理模块，图像处理模块分别与第一采集模块和第二采集模块连接，用于接收第一采集模块发送的第一信号和第二采集模块发送的第二信号；
10.以及，分别基于第一信号和第二信号，生成第一图像和第二图像，第一图像与第一信号对应，用于表征微观连接状态，第二图像与第二信号对应，用于表征宏观连接状态。
11.在一种可能的实现方式中，检测探针调试系统，还包括：
12.图像显示模块，图像显示模块与图像处理模块连接，用于接收图像处理模块发送的第一图像和第二图像；
13.以及，显示第一图像和第二图像。
14.在一种可能的实现方式中，图像显示模块，还用于在显示第一图像的情况下，显示第一预设刻度标注；
15.以及，在显示第二图像的情况下，显示第二预设刻度标注。
16.在一种可能的实现方式中，第一采集模块为高倍电子显微镜。
17.在一种可能的实现方式中，第二采集模块为相机。
18.在一种可能的实现方式中，图像处理模块，包括模数转换子模块和采集子模块；
19.模数转换子模块，用于接收第一信号和第二信号；
20.将第一信号和第二信号由模拟信号转换为数字信号；
21.将转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至采集子模块；
22.采集子模块，用于基于转换为数字信号的第一信号和第二信号进行图像采集和成像处理，生成第一图像和第二图像。
23.在一种可能的实现方式中，模数转换子模块，包括：
24.第一模数转换单元，第一模数转换单元用于接收第一信号，将所接收的第一信号由模拟信号转换为数字信号，并将转换为数字信号的第一信号传输至采集子模块；
25.第二模数转换单元，第二模数转换单元用于接收第二信号，将所接收的第二信号由模拟信号转换为数字信号，并将转换为数字信号的第二信号传输至采集子模块。
26.在一种可能的实现方式中，图像处理模块还包括通讯子模块；
27.通讯子模块的第一端与模数转换子模块电连接，第二端与采集子模块电连接；
28.通讯子模块用于接收模数转换子模块传输的转换为数字信号的第一信号和第二信号；
29.将转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至采集子模块。
30.在一种可能的实现方式中，模数转换子模块包括电荷耦合器件；
31.通讯子模块为中继器；
32.采集子模块为图像信息采集卡。
33.基于相同的发明构思，第二方面，本技术实施例提供一种检测探针调试方法，该检测探针调试方法应用于如上述本技术实施例中任意一项提供的检测探针调试系统，包括：
34.向第一采集模块发送第一指令，第一指令用于指示第一采集模块采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态；
35.向第二采集模块发送第二指令，第二指令用于指示第二采集模块采集检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态。
36.与现有技术相比，本技术实施例提供的一种检测探针调试系统及方法，能够通过设置第一采集模块和第二采集模块，来分别采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态和宏观连接状态，并生成相应的第一信号和第二信号，再通过图像处理模块对第一信号和第二信号进行相应的图像处理，生成用于表征微观连接状态的第一图像和表征宏观连接状态的第二图像，以用于检测探针的调试。本技术实施例的一种检测探针调试系统及方法，通过在检测探针的调试过程中结合检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态和宏观连接状态，从而能够有效提升检测探针位置调试的精确度，进而能够提升设备异常解决效率及稳定性，提高相关产品的测试良率。
附图说明
37.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对本技术实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
38.图1是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之一；
39.图2是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之二；
40.图3是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之三；
41.图4是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之四；
42.图5是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之五；
43.图6是本技术一实施例提供的检测探针调试方法的流程示意图。
44.附图中：
45.1、检测探针调试系统；10、第一采集模块、20、第二采集模块；30、图像处理模块；31、模数转换子模块；32、采集子模块；33、第一模数转换单元；34、第二模数转换单元；35、通讯子模块；40、图像显示模块。
具体实施方式
46.下面将详细描述本技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本技术，而不是限定本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本技术的示例来提供对本技术更好的理解。
47.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
48.应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。
49.应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
50.在本技术实施例中，术语“连接”可以是指两个组件直接接触连接，也可以是指两个组件之间经由一个或多个其它组件连接。
51.在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在本技术中能进行各种修改和变化，这对于本领域技术人员来说是显而易见的。因而，本技术意在覆盖落入所对应权利要求(要求保护的技术方案)及其等同物范围内的本技术的修改和变化。需要说明的是，本技术实施例所提供的实施方式，在不矛盾的情况下可以相互组合。
52.在阐述本技术实施例所提供的技术方案之前，为了便于对本技术实施例理解，本技术首先对相关技术中存在的问题进行具体说明：
53.发明人研究发现，在对探针盘的检测探针调试时，可以通过阵列测试设备中的相机镜头对探针盘与面板之间的连接状况进行摄影，并显示相机所拍摄的探针盘与面板间的连接状况，以使调试人员根据所显示的连接状况对探针盘位置及角度进行调整，从而实现对探针盘的更换与调试。
54.然而，发明人进一步研究发现，在检测探针调试过程中，基于相机拍摄所显示的探针盘与面板之间的连接状况，往往不能精确、直观地反馈探针盘上多个检测探针与面板上的多个测试焊盘之间的具体连接细节，从而导致即使探针盘与测试面板对齐，也会出现由于探针盘上的检测探针与测试面板上的测试焊盘接触不良或者接触错位的情况，从而加大了调试人员的调试难度和效率，进而导致阵列测试设备测试异常的解决效率及稳定性不高，并且还会提升测试数据异常的概率，容易致使面板测试良率低于面板真实良率。
55.为了解决上述技术问题，本技术实施例提供了一种检测探针调试系统及方法。下面首先对本技术实施例所提供的检测探针调试系统进行介绍。
56.图1示出了本技术一实施例提供的检测探针调试系统1的结构示意图之一。检测探针调试系统1包括第一采集模块10、第二采集模块20和图像处理模块30。
57.如图1所示，该检测探针调试系统1中，上述第一采集模块10与图像处理模块30的进行连接，且上述第二采集模块20同样与图像处理模块30进行连接。
58.上述第一采集模块10，可以用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，并生成第一信号，第一信号用于表征微观连接状态。
59.需要说明，本技术中，检测探针具体可以为部署在阵列测试机上的探针盘上的探针，每一探针盘上可以部署有多个检测探针，阵列测试机中包括多个可以用于同时测试多个面板电缺陷的探针盘。
60.目标测试焊盘具体可以设置在测试面板上，每一测试面板上设置有多个测试焊盘，每一面板上的多个测试焊盘可以用于与每一探针盘上的多个检测探针对应连接导通进行面板性能测试。
61.上述检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，具体可以体现为检测探针与和该检测探针对应的目标测试焊盘之间的位置、角度或者连接程度，调试人员或者相关数据处理设备可以基于该微观连接状态判断出，该检测探针是否与其对应的目标测试焊盘正确连接。
62.上述第二采集模块20，可以用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态，并生成第二信号，第二信号用于表征宏观连接状态。
63.上述检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态，具体可以体现为检测探针所在的探针盘与和目标测试焊盘所在的测试面板之间的压接水平位置。
64.如此，调试人员或者相关数据处理设备可以基于该宏观连接状态判断出，检测探针所在的探针盘和目标测试焊盘所在的测试面板的压接水平位置是否对齐，该探针盘是否与其他测试面板发生错位对齐等。
65.应理解地是，上述第一采集模块10和上述第二采集模块20具体可以为不同精度的光学采集设备。具体地，上述第一采集模块10对应的光学采集设备的精度高于第二采集模块20对应的光学采集设备的精度。
66.相应地，上述由第一采集模块10生成的第一信号可以为包括检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态信息的光学信号。上述由第二采集模块20生成的第二信号可以为包括检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态信息的光学信号。
67.上述图像处理模块30，具体可以用于接收第一采集模块10发送的第一信号和第二采集模块20发送的第二信号。
68.以及，上述图像处理模块30还可以用于分别基于第一信号和第二信号，生成第一图像和第二图像，其中，第一图像与第一信号对应，可以用于表征微观连接状态，第二图像与第二信号对应，可以用于表征宏观连接状态。
69.与现有技术相比，本技术实施例提供的一种检测探针调试系统，能够通过设置第一采集模块10和第二采集模块20，来分别采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态和宏观连接状态，并生成相应的第一信号和第二信号，再通过图像处理模块30对第一信号和第二信号进行相应的图像处理，生成用于表征微观连接状态的第一图像和表征宏观连接状态的第二图像，以用于检测探针的调试。本技术实施例的一种检测探针调试系统，通过在检测探针的调试过程中结合检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态和宏观连接状态，从而能够有效提升检测探针位置调试的精确度，进而能够提升设备异常解决效率及稳定性，提高相关产品的测试良率。
70.下面请参见图2，图2是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之二。如图2所示，在一种可能的实现方式中，为了便于相关调试人员更为直观地观察上述检测探针与目标测试焊盘的微观连接状态及宏观连接状态，从而加快调试进度，上述检测探针调试系统1，具体还可以包括：
71.图像显示模块40，上述图像显示模块40可以与图像处理模块30连接，用于接收图像处理模块30发送的第一图像和第二图像。
72.以及，上述图像显示模式40可以用于显示上述第一图像和上述第二图像。
73.如此，通过接收并显示上述第一图像和第二图像，可以使得调试人员直观地检测探针和目标测试焊盘之间的微观压接状态和宏观压接状态进行观察，从而能够结合宏微两方面的观测结果，快速、准确地实现对检测探针和目标测试焊盘之间的压接位置及角度等参数的调整。
74.应理解地是，在实际调试场景中，上述图像显示模块40也可以是根据相关调试人员的调试需求，分别对上述第一图像和上述第二图像进行单独显示等，本技术对此不做严格限制。
75.需要说明，在其他一些可能的实现方式中，上述第一图像和第二图像也可以是直接传输至相应的数据处理设备中，该数据处理设备在接收到用于表征微观连接状态的第一图像和用于表征宏观连接状态的第二图像之后，通过对第一图像和第二图像进行特征提取及信息处理，从而确定检测探针与目标测试焊盘之间是否连接准确，并输出所需要进行调整的位置偏差及角度偏差等数据，以使调试人员进行输出数据对检测探针进行进一步调整对齐。
76.在一种可能的实现方式中，由于目前在相关显示设备中显示相机所拍摄的连接状况时并不会标注相应的刻度范围，调试人员在实际调试场景中进行调试时受到的主观影响较大，容易根据主观判断的位置偏移量而做出无效调试，从而影响调试进度。
77.基于此，为了使调试人员能够更为客观、精确地对检测探针和目标测试焊盘之间的连接状态进行观察，从而加快调试进度，上述图像显示模块40，还用于在显示第一图像的情况下，显示第一预设刻度标注；
78.以及，在显示第二图像的情况下，显示第二预设刻度标注。
79.应理解地是，在实际调试场景下，考虑到上述第一图像中显示的是检测探针与目
标测试焊盘之间的微观压接状况，因此，上述第一预设刻度标注具体可以视检测探针与上述目标测试焊盘的尺寸大小而定。
80.以及，考虑到上述第二图像中所显示的是检测探针与目标测试焊盘之间的宏观压接状态，因此，上述第二预设刻度标注具体可以视检测探针所在的探针盘以及目标测试焊盘所在的面板的尺寸大小而定，本技术对此并不做具体限制。
81.在一种可能的实现方式中，具体地，为了有效保障所采集的检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态的精确度，上述第一采集模块10可以为高倍电子显微镜。如此，在实际的采集场景中，通过高倍电子显微镜发射电子束来获取检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，并生成相应的用于表征微观连接状态的第一信号。
82.在一种可能的实现方式中，为了实现对检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态的合理采集，第二采集模块20具体可以为相机。需要说明，在实际场景中，该相机可以直接为阵列测试机所连接的摄影相机。
83.下面请参见图3，图3是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之三。如图3所示，在一种可能的实现方式中，具体地，为了对上述第一采集模块10和第二采集模块20采集生成的第一信号和第二信号进行更为合理、高效地图像处理，上述图像处理模块30，可以包括模数转换子模块31和采集子模块32。
84.上述模数转换子模块31，可以用于接收第一信号和第二信号，并将所接收的第一信号和第二信号由模拟信号转换为数字信号，再将转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至采集子模块32。
85.上述采集子模块32，可以用于基于转换为数字信号的第一信号和第二信号进行图像采集和成像处理，生成第一图像和第二图像。
86.如此，通过上述模数转换子模块31，能够将所接收的模拟量的第一信号和第二信号分别转换为数字量的第一信号和第二信号，再通过上述采集子模块32对转换为数字信号的第一信号和第二信号进行信号采集及成像处理，能够生成与第一信号对应的第一图像，以及与第二信号对应的第二图像，从而合理、有效地实现了对第一采集模块10和第二采集模块20采集生成的第一信号和第二信号的相关图像处理。
87.下面请参见图4，图4是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之四。如图4所示，在一种可能的实现方式中，考虑到不同信号之间的混淆及干扰情况时有发生，为了更加准确地实现对上述第一信号和第二信号的模数转换，从而使得最终生成的第一图像和第二图像内容更加可靠，述模数转换子模块31，具体可以包括：
88.第一模数转换单元33，第一模数转换单元33用于接收第一信号，将所接收的第一信号由模拟信号转换为数字信号，并将转换为数字信号的第一信号传输至采集子模块32；
89.第二模数转换单元34，第二模数转换单元34用于接收第二信号，将所接收的第二信号由模拟信号转换为数字信号，并将转换为数字信号的第二信号传输至采集子模块32。
90.本实施例中，通过设置上述第一模数转换单元33和上述第二模数转换单元34，以分别对第一采集图像10生成的第一信号和第二采集图像20生成的第二信号进行接收及模数转换，从而可以有效避免信号处理过程中不同信号间的混淆及干扰，进而有效提升最终所生成的第一图像和第二图像的可靠性。
91.下面请参见图5，图5是本技术一实施例提供的检测探针调试系统的结构示意图之
五。如图5所示，在一种可能的实现方式中，为了更为合理地实现信号传输，图像处理模块30还可以包括通讯子模块35。
92.上述通讯子模块35的第一端可以与模数转换子模块31电连接，通讯子模块35的第二端可以与上述采集子模块32电连接。
93.上述通讯子模块35，可以用于接收模数转换子模块31传输的转换为数字信号的第一信号和第二信号，并将转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至采集子模块32。
94.需要说明，上述通讯子模块具体还可以用于对所接收的第一信号和第二信号放大、以及分别对第一信号和第二信号传输过程中的信号衰减进行补偿，本技术对此不做具体限制。
95.在一种可能的实现方式中，结合具体的检测探针调试场景考虑，为了合理、高效实现前述部分所述的模数转换子模块31、通讯子模块35以及采集子模块32的功能，上述模数转换子模块31具体可以包括电荷耦合器件；上述通讯子模块35具体可以为中继器；上述采集子模块32具体可以为图像信息采集卡。
96.基于相同的发明构思，本技术实施例还提供了一种检测探针调试方法，该检测探针调试方法应用于如上述本技术实施例中任意一项提供的检测探针调试系统。下面请参见图6，图6是本技术一实施例提供的检测探针调试方法的流程示意图，该检测探针调试方法具体可以包括：
97.s610，向第一采集模块发送第一指令，第一指令用于指示第一采集模块采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态；
98.s620，向第二采集模块发送第二指令，第二指令用于指示第二采集模块采集检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态。
99.如此，通过向第一采集模块发送第一指令，使得第一采集模块在接收到该第一指令后，对检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态进行采集；通过向第二采集模块发送第二指令，使得第二采集模块在接收到该第二指令后，对检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态进行采集。
100.需要说明，上述第一指令可以是任意可以指示第一采集模块使能工作的驱动信号。本技术实施例中，第一指令具体可以为但不限于交流电源信号，脉冲信号或者其他电信号等。上述第二指令与第一指令类似，为表简洁，本技术在此对第二指令不做相关赘述。
101.应理解地是，本实施例中，上述步骤610和步骤620可以是同时执行，也可以是先后顺序执行，本技术对此不做具体限制。
102.以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现可以为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时，其可以例如是电子电路、专用集成电路(asic)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时，本技术的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中，或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、rom、闪存、可擦除rom(erom)、软盘、cd-rom、光盘、硬盘、光纤介质、射频(rf)链路，等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
103.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排
他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括可以为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
104.本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想。以上仅是本技术的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将本技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均应视可以为本技术的保护范围。

技术特征：

1.一种检测探针调试系统，其特征在于，包括：第一采集模块，用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，并生成第一信号，所述第一信号用于表征所述微观连接状态；第二采集模块，用于采集所述检测探针与所述目标测试焊盘之间的宏观连接状态，并生成第二信号，所述第二信号用于表征所述宏观连接状态；图像处理模块，所述图像处理模块分别与所述第一采集模块和所述第二采集模块连接，用于接收所述第一采集模块发送的所述第一信号和所述第二采集模块发送的所述第二信号；以及，分别基于所述第一信号和所述第二信号，生成第一图像和第二图像，所述第一图像与所述第一信号对应，用于表征所述微观连接状态，所述第二图像与所述第二信号对应，用于表征所述宏观连接状态。2.根据权利要求1所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述检测探针调试系统，还包括：图像显示模块，所述图像显示模块与所述图像处理模块连接，用于接收所述图像处理模块发送的所述第一图像和所述第二图像；以及，显示所述第一图像和所述第二图像。3.根据权利要求2所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述图像显示模块，还用于在显示所述第一图像的情况下，显示第一预设刻度标注；以及，在显示所述第二图像的情况下，显示第二预设刻度标注。4.根据权利要求1所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述第一采集模块为高倍电子显微镜。5.根据权利要求1所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述第二采集模块为相机。6.根据权利要求1所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述图像处理模块，包括模数转换子模块和采集子模块；所述模数转换子模块，用于接收所述第一信号和所述第二信号；将所述第一信号和所述第二信号由模拟信号转换为数字信号；将所述转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至所述采集子模块；所述采集子模块，用于基于所述转换为数字信号的第一信号和第二信号进行图像采集和成像处理，生成所述第一图像和所述第二图像。7.根据权利要求6所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述模数转换子模块，包括：第一模数转换单元，所述第一模数转换单元用于接收所述第一信号，将所接收的所述第一信号由模拟信号转换为数字信号，并将所述转换为数字信号的第一信号传输至所述采集子模块；第二模数转换单元，所述第二模数转换单元用于接收所述第二信号，将所接收的所述第二信号由模拟信号转换为数字信号，并将所述转换为数字信号的第二信号传输至所述采集子模块。8.根据权利要求6所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述图像处理模块还包括通讯子模块；所述通讯子模块的第一端与所述模数转换子模块电连接，第二端与所述采集子模块电
连接；所述通讯子模块用于接收所述模数转换子模块传输的所述转换为数字信号的第一信号和第二信号；将所述转换为数字信号的第一信号和第二信号传输至所述采集子模块。9.根据权利要求8所述的检测探针调试系统，其特征在于，所述模数转换子模块包括电荷耦合器件；所述通讯子模块为中继器；所述采集子模块为图像信息采集卡。10.一种检测探针调试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-9任一项所述的检测探针调试系统，包括：向第一采集模块发送第一指令，所述第一指令用于指示所述第一采集模块采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态；向第二采集模块发送第二指令，所述第二指令用于指示所述第二采集模块采集所述检测探针与所述目标测试焊盘之间的宏观连接状态。

技术总结

本申请公开了一种检测探针调试系统及方法，涉及显示面板测试领域。该检测探针调试系统包括：第一采集模块，用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的微观连接状态，并生成第一信号；第二采集模块，用于采集检测探针与目标测试焊盘之间的宏观连接状态，并生成第二信号；图像处理模块，图像处理模块分别与第一采集模块和第二采集模块连接，用于接收第一采集模块发送的第一信号和第二采集模块发送的第二信号；以及，分别基于第一信号和第二信号，生成第一图像和第二图像。根据本实施例，能够有效提升检测探针位置调试的精确度，进而能够提升设备异常解决效率及稳定性，提高相关产品的测试良率。良率。良率。