电子元器件耐焊接热试验标准

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电子元器件耐焊接热试验标准
Resistance to Soldering Heat Test
一、目的:
        检验器件在高温浸锡条件下的电性耐受性能。
二、使用设备:
        焊锡炉,TVR6000综测仪
、试验条件:
    1、浸锡温度260±1   
2、浸锡时间10±1SEC
四、试验规定
4.1要严格按照试验仪器“技术说明书”操作顺序操作。
4.2常规产品规定每季度做一次周期试验,试验条件及判据采用或等效采用产品标准;新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。
4.3采用LTPD的抽样方法,在第一次试验不合格时,可采用追加样品抽样方法或采用筛选方法重新抽样,但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。
永磁铁氧体4.4若圆极化天线LTPD=10%,则抽22只,01退,追加抽样为38只,12退。抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。
五、试验方法:
    轴向封装器件:
        器件轴向固定于专用夹具上,垂直插入锡槽,锡液面距下本体面1mm,保持10SEC后迅速取出。
  SMA封装器件:
        把器件一只引脚拉成与本体上、下面平行,把此引脚垂直插入锡槽,本体下端面距锡
液面无油涡旋机1mm保持10SEC制卡迅速取出。
六、试验条件及判据:
环境条件
(1)标准状态
标准状态是指预处理, 后续处理及试验中的环境条件。论述如下:
无碳小车环境温度:      15~35
相对湿度:      45~75%
(2)判定状态
判定状态是指初测及终测时的环境条件。论述如下:
环境温度钾霞石:      25±3
相对湿度:      45~75%
22只,01退。

本文发布于:2023-05-22 23:16:54,感谢您对本站的认可!

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