膜厚计(高度规)校验规范

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文件编号:SCTQC-32版本:1.0发行日期:页数:1/1器具名称
膜厚计校正环境温度:25±5℃湿度:45-80%RH 校正方式直接校正校正部门实验室作业序号
作业名称1作业准备2作业程序3判定4注意事项审核:制定:颖都电子有限公司
SC
(2)待校膜厚计
一.外观检查:无损伤,变形,测量平面无划痕.
品管部膜厚计(高度规)校验规范作业内容SMART CITY ENTERPRISES
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核准:工艺简图(2)当误差在最大允许误差值之内则判合格,反之则判不合格.
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二次沉淀池量块和测量面应保持清洁,无颗粒状异物.
三.示值误差检查:
大尺寸触摸屏
(1)检验工具:外校合格量块.检验平台.手套.
二.各部分相互作用,高度杆移动灵活,无卡死现象.
(3)外校合格量块为标准值,膜厚计指示值为测试值.
(1)最大允许误差为±0.01mm
机密等级:一般(2)用千分尺测厚仪分别测量1mm,1.005mm.1.01mm.1.02mm.1.05mm标准量块,记录实测值.
(4)测试值减去标准值即为仪器误差值.
(1)将膜厚计置于水平平台上调整后归零
使用前确认标准件是否有校验合格
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本文发布于:2023-06-21 19:36:35,感谢您对本站的认可!

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