题目：四方火花塞诊断与配置芯片测试软件的设计SUBJECT: QSDD CHIP TEST DESIGN OF SOFTWARE 摘要
本文针对Delphi Delco电子系统中的QSDD产品的测试特性应用进行研究，并对其生产过程中的最终测试程序进行设计。该产品是在DTS（Dedicated Test Systems）半导体测试系统下进行测试的。该设计对提高其测试性能，缩短测试时间，提高企业利润等都有着十分重要的意义。 关键词：QSDD；DTS测试系统；IDQQ测试技术；半导体测试
莫氏变径套ABSTRACT
This paper is mainly about researching the applications of testing characteristics of Delphi Delco in the electronic system QSDD. The final testing code during the product procedure is designed. This product is tested in the DTS(Dedicated Test Systems). This design will enhance the testing performance, reduce the testing time, and enhance the enterprise profit.
最佳位置 POKey words：QSDD; DTS system; IDQQ testing system;semi-conductor testing
目录
一绪论 (1)
二 QSDD产品的测试特性 (3)
2.1 Delphi与Delphi Delco 电子系统 (3)
2.2 QSDD的含义 (3)
2.3 QSDD产品测试特性 (3)
2.3.1 运行条件 (3)
2.3.2 电性要求及模块描述 (4)
2.3.3 QSDD芯片功能模块描述 (6)
2.3.4 直流DC特性 (9)
2.3.5 交流AC特性 (11)
2.4 测试的电性操作要求 (12)
三 DTS芯片测试系统 (13)
3.1 芯片测试时刻及测试对象 (13)
3.2 芯片测试使用的仪器 (14)
3.2.1 测试系统 (15)
3.2.2 测试板 (15)
3.2.3 测试机 (16)
同步相量测量装置3.3 DTS测试系统硬件组成 (16)
3.3.1 DTS测试系统外部资源 (16)
3.3.2 DTS测试系统内部资源 (17)
3.4 测试系统软件组成 (21)服务器压力测试
3.4.1 DTS操作界面 (21)
3.4.2 测试程序构成 (21)
超市手推车广告四 QSDD测试软件设计 (24)
4.1 QSDD芯片测试模试选择的编写 (25)
4.2 对继电器驱动(relay drivers)部分的编写 (26)
4.3 QSDD芯片引脚短路/断路测试 (27)
4.3.1 短路/断路测试原理 (27)非安全
4.3.2 QSDD opens/shorts测试 (28)
4.4 对QSDD交直流参数的测试 (30)
4.4.1 QSDD中使用的IDDQ技术 (30)
4.4.2 IDDQ测试的效果分析 (32)
4.4.3 QSDD交直流测试 (32)
结束语 (34)
参考文献 (35)
附录 (36)
