一种SSD控制器的系统测试自动化分析方法及装置与流程

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一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法及装置
技术领域
1.本发明涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法及装置。

背景技术：

2.在现有ssd(ssd指固态硬盘)架构中，ssd控制器作为关键器件，其质量将直接决定ssd的性能、稳定性和功能可靠性，目前cp测试(cp测试指ssd控制器在晶圆阶段进行的性能及功能测试)在ft测试(ft测试指ssd控制器在封装完成以后进行的最终测试)前进行，而cp测试一般是基本的连接测试和低速的数字电路测试，因此cp测试后ssd控制器的不良率依旧高，后续的封装和测试的成本较高。

技术实现要素：

3.本发明提供了ssd控制器的系统测试自动化分析方法及装置，旨在解决现有技术cp测试后ssd控制器的不良率高以及后续的封装和测试的成本较高的问题。
4.本发明实施例提供了一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法，包括：
5.测试机台对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；
6.当ssd控制器上料成功后，所述测试机台通过串口将测试信息发送给测试主机；
7.所述测试主机接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；
8.所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；
9.所述测试主机将所述测试结果发送给所述测试机台；
10.所述测试机台根据所述测试结果对ssd控制器进行分类和上下料操作。
11.进一步的，所述测试主机记录所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将所述测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析。
12.进一步的，所述测试主机记录所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将所述测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析，包括：
13.针对每一ssd控制器，测试主机记录测试所述ssd控制器时接收到的所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到每一ssd控制器的测试日志；
14.将每一ssd控制器的晶圆位置信息作为所述测试日志的唯一标识；
15.将所述测试日志以及对应的唯一标识一并上传至日志服务器。
16.进一步的，所述测试机台通过网络或者视频交换机对所述测试主机进行远程监控调试。
17.进一步的，所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试包括：
18.对所述ssd控制器的soc通信模块、soc存储模块、soc接口模块以及soc gpio开短路进行测试。
19.进一步的，对soc存储模块进行测试，包括：根据soc存储模块的bit翻转，且在高温以及低温下进行读写压力测试。
20.进一步的，所述系统测试单板包括控制芯片，所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试还包括：通过所述控制芯片控制所述ssd控制器的外围电压以及检测所述ssd控制器的gpio电平。
21.本发明实施例还提供一种ssd控制器的系统测试自动化分析装置，包括：测试机台、测试主机及系统测试单板；
22.所述测试机台用于对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；
23.所述测试机台还用于，当ssd控制器上料成功后通过串口将测试信息发送给测试主机；
24.所述测试主机用于接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；
25.所述系统测试单板用于对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；
26.所述测试主机还用于将所述测试结果发送给所述测试机台。
27.进一步的，所述测试机台还用于通过网络或者视频交换机对所述测试主机进行远程监控调试。
28.进一步的，所述系统测试单板包括控制芯片，用于控制所述ssd控制器的外围电压以及检测所述ssd控制器的gpio电平。
29.本发明实施例提供了一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法，包括：测试机台对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；当ssd控制器上料成功后，所述测试机台通过串口将测试信息发送给测试主机；所述测试主机接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；所述测试主机将所述测试结果发送给所述测试机台；所述测试机台根据所述测试结果对ssd控制器进行分类和上下料操作。该方法是在ssd功能测试(ft)前增加对ssd控制器来料进行slt系统测试(system level test)，实现ssd控制器测试前移和覆盖度提升，slt系统测试对ssd控制器进行高低温、读写压力测试，针对ssd控制器进行模块化的系统测试，在来料筛选环节将不良ssd控制器筛选出，从而提升ssd整体测试良率以及减少后续的封装和测试成本。本发明实施例同时还提供了一种ssd控制器的系统测试自动化分析装置，具有上述有益效果，在此不再赘述。
附图说明
30.为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
31.图1为本发明实施例所提供的ssd控制器的系统测试自动化分析方法的流程示意图；
32.图2为本发明实施例所提供的ssd控制器的系统测试自动化分析装置的示意性框图。
具体实施方式
33.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
34.应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
35.还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
36.还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
37.请参阅图1，本实施例提供了一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法，包括：
38.s101：测试机台对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；
39.s102：当ssd控制器上料成功后，所述测试机台通过串口将测试信息发送给测试主机；
40.s103：所述测试主机接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；
41.s104：所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；
42.s105：所述测试主机将所述测试结果发送给所述测试机台；
43.s106：所述测试机台根据所述测试结果对ssd控制器进行分类和上下料操作。
44.本实施例所提供的一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法是在ssd控制器的ft测试前增加针对ssd控制器来料的slt系统测试，slt系统测试主要是对ssd控制器进行高低温测试以及读写压力测试，其中，ft测试是对封装后的ssd控制器进行测试，而slt系统测试设置在ft测试之前，提前将不符合规格的ssd控制器筛选出，减少后续的封装和ft测试的成本。
45.下面对测试机台部分进行具体说明：
46.测试机台对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料，当ssd控制器上料成功后，测试机台通过uart(uart指一种异步收发传输器)将测试信息发送给测试主机，接着测试机台等待测试主机返回slt系统测试的结果，测试机台根据测试结果对ssd控制器进行分bin(即分类)和上下料操作。
47.在一个实施例中，uart可使用usb转串口的线缆，也可通过usb hub进行扩展。
48.在一个实施例中，测试机台可通过网络或者视频交换机对测试主机进行远程监控调试。
49.下面对测试主机部分进行具体说明：
50.测试主机通过串口接收到测试机台的测试信息后，自动调用slt测试程序，接着通过pcie和串口向系统测试单板下发测试命令，当系统测试单板测试完成后，测试主机接收系统测试单板上传的测试结果并对测试结果进行解析判断，同时实时将测试结果传送至测试机台。
51.其中，测试主机记录测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析。
52.在一个实施例中，针对每一ssd控制器，测试主机记录测试ssd控制器时接收到的测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到每一ssd控制器的测试日志；将每一ssd控制器的晶圆位置信息作为测试日志的唯一标识；将测试日志以及对应的唯一标识一并上传至日志服务器。
53.下面对系统测试单板部分进行具体说明：
54.系统测试单板接收测试主机的测试指令，对ssd控制器的soc通信模块、soc存储模块、soc接口模块以及soc gpio开短路进行测试，接着将测试结果上传至测试主机。
55.在一个实施例中，系统测试单板对soc通信模块中的串口、i2c、pcie进行读写压力测试，对soc接口模块中的ddr、nand功能接口进行测试，对soc gpio中的das、plp等gpio管脚进行开短路检测，根据soc memory的bit翻转，在高温以及低温下进行读写压力测试。
56.其中，温度越高氧化现象会越来越明显，过度氧化会导致物理和机械形变和产生晶圆电性误差，温度低时空气中的水蒸气在样品上凝结成露水，导致漏电过大或探针无法接触电极，经过多次试验发现，在高温85℃以及低温0℃的情况下进行读写压力测试，既能保证较高的测试精度，又能保证较高的效率，也能较好地将不良ssd控制器筛选出。
57.本实施例中，系统测试单板在低温0℃的情况下进行3组读写压力测试，在高温85℃的情况下进行6组读写压力测试。
58.在一个实施例中，系统测试单板包括控制芯片，通过控制芯片控制ssd控制器的外围电压以及检测ssd控制器的gpio电平。
59.在一个实施例中，系统测试单板通过stm32控制芯片将ssd控制器的外围电压的误差控制在
±
5％，且通过stm32控制芯片对ssd控制器的gpio电平进行检测。
60.请参阅图2，本发明实施例还提供一种ssd控制器的系统测试自动化分析装置，包括：测试机台201、测试主机202及系统测试单板203；
61.测试机台201用于对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；
62.测试机台201还用于，当ssd控制器上料成功后通过串口将测试信息发送给测试主机202；
63.测试主机202用于接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板203；
64.系统测试单板203用于对ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至测试主机202；
65.测试主机202还用于将测试结果发送给测试机台201。
66.进一步的，测试机台201设置为handler自动上下料设备，用于控制ssd控制器的上下料。
67.进一步的，测试机台201还用于通过网络或者视频交换机对测试主机202进行远程监控调试。
68.进一步的，测试主机202设置为自动化测试程序运行的系统硬件环境，用于测试的启动、停止、测试结果回传以及测试日志处理。
69.进一步的，由于测试机台201的控制接口必须时1对1的，任一台测试主机202设置有6个串口。
70.进一步的，测试主机202还用于记录测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析。
71.进一步的，测试主机202还用于针对每一ssd控制器，记录测试ssd控制器时接收到的测试机台201的测试信息日志以及系统测试单板203的测试信息日志，得到每一ssd控制器的测试日志；将每一ssd控制器的晶圆位置信息作为测试日志的唯一标识；将测试日志以及对应的唯一标识一并上传至日志服务器。
72.进一步的，系统测试单板203设置为ssd控制器系统测试的测试治具，包括ssd控制器socket、nand、ddr外围电路以及mcu控制芯片，用于装载ssd控制器、测试ssd控制器外围电路以及内部功能模块。
73.进一步的，系统测试单板203还用于对ssd控制器的soc通信模块、soc存储模块、soc接口模块以及soc gpio开短路进行测试。
74.进一步的，系统测试单板203还用于根据soc存储模块的bit翻转，在高温以及低温下进行读写压力测试。
75.进一步的，系统测试单板203还用于控制ssd控制器的外围电压以及检测ssd控制器的gpio电平。
76.进一步的，系统测试单板203可设置有2个串口，其中一个串口用于mcu通信调压控制，另一个串口用于记录日志和调试，也可只设有一个串口用于转发。
77.说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
78.还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的状况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

技术特征：

1.一种ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，包括：测试机台对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；当ssd控制器上料成功后，所述测试机台通过串口将测试信息发送给测试主机；所述测试主机接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；所述测试主机将所述测试结果发送给所述测试机台；所述测试机台根据所述测试结果对ssd控制器进行分类和上下料操作。2.根据权利要求1所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，还包括：所述测试主机记录所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将所述测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析。3.根据权利要求2所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，所述测试主机记录所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到测试日志，并将所述测试日志上传至日志服务器，以进行大数据解析，包括：针对每一ssd控制器，测试主机记录测试所述ssd控制器时接收到的所述测试机台的测试信息日志以及系统测试单板的测试信息日志，得到每一ssd控制器的测试日志；将每一ssd控制器的晶圆位置信息作为所述测试日志的唯一标识；将所述测试日志以及对应的唯一标识一并上传至日志服务器。4.根据权利要求1所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，还包括：所述测试机台通过网络或者视频交换机对所述测试主机进行远程监控调试。5.根据权利要求1所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试包括：对所述ssd控制器的soc通信模块、soc存储模块、soc接口模块以及soc gpio开短路进行测试。6.根据权利要求5所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，对soc存储模块进行测试，包括：根据soc存储模块的bit翻转，且在高温以及低温下进行读写压力测试。7.根据权利要求1所述的ssd控制器的系统测试自动化分析方法，其特征在于，所述系统测试单板包括控制芯片，所述系统测试单板对所述ssd控制器进行测试还包括：通过所述控制芯片控制所述ssd控制器的外围电压以及检测所述ssd控制器的gpio电平。8.一种ssd控制器的系统测试自动化分析装置，其特征在于，包括：测试机台、测试主机及系统测试单板；所述测试机台用于对待测试的ssd控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制ssd控制器上料；所述测试机台还用于，当ssd控制器上料成功后通过串口将测试信息发送给测试主机；所述测试主机用于接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；所述系统测试单板用于对所述ssd控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主
机；所述测试主机还用于将所述测试结果发送给所述测试机台。9.根据权利要求8所的系统测试自动化分析装置，其特征在于，所述测试机台还用于通过网络或者视频交换机对所述测试主机进行远程监控调试。10.根据权利要求8所的系统测试自动化分析装置，其特征在于，所述系统测试单板包括控制芯片，用于控制所述ssd控制器的外围电压以及检测所述ssd控制器的gpio电平。

技术总结

本发明公开了一种SSD控制器的系统测试自动化分析方法及装置，包括：测试机台对待测试的SSD控制器批次、型号、测试温度压力以及测试分类结果进行配置，控制SSD控制器上料；当SSD控制器上料成功后，所述测试机台通过串口将测试信息发送给测试主机；所述测试主机接收到测试信息后，自动调用系统测试程序，将测试指令发送给系统测试单板；所述系统测试单板对所述SSD控制器进行测试，并将测试结果发送至所述测试主机；所述测试主机将所述测试结果发送给所述测试机台；所述测试机台根据所述测试结果对SSD控制器进行分类和上下料操作。本发明从软硬件上设计了针对SSD控制器的系统测试自动化分析方案，实现SOC控制器介质测试压力的增强和覆盖度的提升。强和覆盖度的提升。强和覆盖度的提升。