一种芯片测试筛选平台的制作方法

阅读：评论：0

1.本实用新型涉及芯片生产设备技术领域，尤其涉及一种芯片测试筛选平台。

背景技术：

2.芯片本质是半导体+集成电路，不合格的芯片会导致器件失效，因此芯片功能、性能fail要被检测出来，就需要进行芯片测试，现有芯片测试前未进行筛选，直接仪器检测，对检测设备负担较大，且测试成本较高，需要一种筛选设备，提前对测试芯片外观形状进行检测，方可进行后续正式的芯片功能及性能测试。因此本实用提出了一种芯片测试筛选平台，以解决上述背景技术中提到的问题。

技术实现要素：

3.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片测试筛选平台。
4.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
5.一种芯片测试筛选平台，包括输送设备和三维扫描设备，所述输送设备前端一侧设置有筛选架，所述三维扫描设备安装于筛选架上，且所述筛选架内设置有拨条块，所述筛选架左右两侧均设置有分类槽，所述输送设备前端另一侧转动连接有转块，所述转块上侧设置有槽轮，所述转块后侧固定连接有正齿轮二，所述正齿轮二一侧设置有与其啮合的正齿轮一，所述筛选架一侧设置有位于输送设备前端的转座，所述转座上侧转动连接有转柱，所述转柱与槽轮传动连接，所述转柱上设置有托板。
6.优选地，所述输送设备包括前后两输送辊和输送带，输送设备内设置有与一输送辊传动连接的驱动装置，前侧输送辊一端与正齿轮一固定连接。
7.优选地，所述转块上固定有两转条，转条外端转动连接有对应槽轮的槽轴。
8.优选地，所述槽轮转动连接于输送设备前端，槽轮外侧固定有锥齿轮，锥齿轮上侧设置有与其啮合的另一锥齿轮。
9.优选地，所述转柱与另一锥齿轮上侧均固定有皮带轮，左右两皮带轮周侧套设有传动皮带。
10.优选地，所述托板上下滑动于转柱上，转座上设置有对应托板的凸起，且凸起两侧设置有对应托板的斜面。
11.优选地，所述筛选架内设置有驱动拨条块上下直线运动的驱动装置，且筛选架内设置有驱动拨条块转动运动的驱动装置。
12.相比现有技术，本实用新型的有益效果为：
13.1、本实用新型设置的芯片测试筛选平台，设置三维扫描设备，先对外形进行扫描，若发现芯片外部已损坏，直接剔除，减轻后续芯片功能以及性能的测试压力，同时减去包装的成本；
14.2、本实用新型设置的筛选平台，通过输送设备进行芯片输送，在输送过程中，传动
前侧上芯片结构，将待测定的芯片依次输送经过扫描设备，无需测试人员手动上芯片和分类，极大提高了筛选效率。
附图说明
15.图1为本实用新型提出的一种芯片测试筛选平台的结构示意图一；
16.图2为本实用新型提出的一种芯片测试筛选平台的结构示意图二；
17.图3为本实用新型提出的一种芯片测试筛选平台的结构示意图三。
18.图中：1、输送设备；2、筛选架；3、三维扫描设备；4、拨条块；5、分类槽；6、托板；7、转座；8、正齿轮一；9、正齿轮二；10、转柱；11、皮带轮；12、传动皮带；13、锥齿轮；14、槽轮；15、转块；16、槽轴。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
20.参照图1-3，一种芯片测试筛选平台，包括输送设备1和三维扫描设备3，输送设备1前端一侧设置有筛选架2，三维扫描设备3安装于筛选架2上，且筛选架2内设置有拨条块4，筛选架2左右两侧均设置有分类槽5，筛选架2内设置有驱动拨条块4上下直线运动的驱动装置，且筛选架2内设置有驱动拨条块4转动运动的驱动装置，经筛选架2内三维扫描设备3扫描，若扫描外形有缺陷，则判定不合格，发送信号给筛选架2内驱动装置，控制筛选架2内拨条块4，控制拨条块4下移左转动或右转动，将扫描芯片扫至右侧分类槽5或左侧分类槽5内；
21.进一步的是，输送设备1前端另一侧转动连接有转块15，转块15上侧设置有槽轮14，输送设备1包括前后两输送辊和输送带，输送设备1内设置有与一输送辊传动连接的驱动装置，前侧输送辊一端与正齿轮一8固定连接，转块15上固定有两转条，转条外端转动连接有对应槽轮14的槽轴16，将需要进行筛选的芯片放置在输送设备1上，进行输送，期间经过前端筛选架2，在输送设备1运行工作并对其上芯片进行输送时，输送设备1前侧输送辊通过一端相互啮合的正齿轮一8和正齿轮二9，传动输送设备1前端转块15，转动的转块15带动其上转条一同转动，上述转动的转条通过其外端槽轴16传动上侧槽轮14，使得上侧槽轮14做间歇性的九十度转动；
22.更进一步的是，转块15后侧固定连接有正齿轮二9，正齿轮二9一侧设置有与其啮合的正齿轮一8，筛选架2一侧设置有位于输送设备1前端的转座7，转座7上侧转动连接有转柱10，转柱10与槽轮14传动连接，转柱10上设置有托板6，槽轮14转动连接于输送设备1前端，槽轮14外侧固定有锥齿轮13，锥齿轮13上侧设置有与其啮合的另一锥齿轮13，转柱10与另一锥齿轮13上侧均固定有皮带轮11，左右两皮带轮11周侧套设有传动皮带12，转动的槽轮14带动外侧固定的锥齿轮13转动，转动的锥齿轮13传动上侧啮合的另一锥齿轮13，另一锥齿轮13传动上侧固定的皮带轮11，一端转动的皮带轮11通过传动皮带12和另一皮带轮11传动另一端托板6结构，由于上述转条槽轴16结构，传动槽轮14做间歇九十度角的转动，因此传动托板6做间歇的九十度角转动；
23.更进一步的是，托板6上下滑动于转柱10上，转座7上设置有对应托板6的凸起，且
凸起两侧设置有对应托板6的斜面，当托板6位于输送设备1前端时，其上芯片正好落在托板6表面，前侧输送辊传动托板6转动一百八十度，托板6及其上芯片落在筛选架2内，在转至筛选架2内时，托板6受转座7上斜面限制，使得转柱10周侧托板6位置上移，当托板6转过筛选架2，落在输送设备1前端时，托板6转过转座7凸出部分，转柱10上托板6位置下移。
24.本实用新型具体工作原理如下：
25.在使用本芯片测试筛选平台时，将需要进行筛选的芯片放置在输送设备1上，进行输送，期间经过前端筛选架2；
26.在输送设备1运行工作并对其上芯片进行输送时，输送设备1前侧输送辊通过一端相互啮合的正齿轮一8和正齿轮二9，传动输送设备1前端转块15，转动的转块15带动其上转条一同转动；
27.上述转动的转条通过其外端槽轴16传动上侧槽轮14，使得上侧槽轮14做间歇性的九十度转动，转动的槽轮14带动外侧固定的锥齿轮13转动，转动的锥齿轮13传动上侧啮合的另一锥齿轮13；
28.另一锥齿轮13传动上侧固定的皮带轮11，一端转动的皮带轮11通过传动皮带12和另一皮带轮11传动另一端托板6结构，由于上述转条槽轴16结构，传动槽轮14做间歇九十度角的转动，因此传动托板6做间歇的九十度角转动；
29.当托板6位于输送设备1前端时，其上芯片正好落在托板6表面，前侧输送辊传动托板6转动一百八十度，托板6及其上芯片落在筛选架2内，在转至筛选架2内时，托板6受转座7上斜面限制，使得转柱10周侧托板6位置上移；
30.经筛选架2内三维扫描设备3扫描，若扫描外形有缺陷，则判定不合格，发送信号给筛选架2内驱动装置，控制筛选架2内拨条块4，控制拨条块4下移左转动或右转动，将扫描芯片扫至右侧分类槽5或左侧分类槽5内，当托板6转过筛选架2，落在输送设备1前端时，托板6转过转座7凸出部分，转柱10上托板6位置下移至原来高度。
31.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：

1.一种芯片测试筛选平台，包括输送设备（1）和三维扫描设备（3），其特征在于，所述输送设备（1）前端一侧设置有筛选架（2），所述三维扫描设备（3）安装于筛选架（2）上，且所述筛选架（2）内设置有拨条块（4），所述筛选架（2）左右两侧均设置有分类槽（5），所述输送设备（1）前端另一侧转动连接有转块（15），所述转块（15）上侧设置有槽轮（14），所述转块（15）后侧固定连接有正齿轮二（9），所述正齿轮二（9）一侧设置有与其啮合的正齿轮一（8），所述筛选架（2）一侧设置有位于输送设备（1）前端的转座（7），所述转座（7）上侧转动连接有转柱（10），所述转柱（10）与槽轮（14）传动连接，所述转柱（10）上设置有托板（6）。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述输送设备（1）包括前后两输送辊和输送带，输送设备（1）内设置有与一输送辊传动连接的驱动装置，前侧输送辊一端与正齿轮一（8）固定连接。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述转块（15）上固定有两转条，转条外端转动连接有对应槽轮（14）的槽轴（16）。4.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述槽轮（14）转动连接于输送设备（1）前端，槽轮（14）外侧固定有锥齿轮（13），锥齿轮（13）上侧设置有与其啮合的另一锥齿轮（13）。5.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述转柱（10）与另一锥齿轮（13）上侧均固定有皮带轮（11），左右两皮带轮（11）周侧套设有传动皮带（12）。6.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述托板（6）上下滑动于转柱（10）上，转座（7）上设置有对应托板（6）的凸起，且凸起两侧设置有对应托板（6）的斜面。7.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选平台，其特征在于，所述筛选架（2）内设置有驱动拨条块（4）上下直线运动的驱动装置，且筛选架（2）内设置有驱动拨条块（4）转动运动的驱动装置。

技术总结

本实用新型公开了一种芯片测试筛选平台，涉及芯片生产设备技术领域，包括输送设备和三维扫描设备，所述输送设备前端一侧设置有筛选架，所述三维扫描设备安装于筛选架上，且所述筛选架内设置有拨条块。本实用新型设置的芯片测试筛选平台，设置三维扫描设备，先对外形进行扫描，若发现芯片外部已损坏，直接剔除，减轻后续芯片功能以及性能的测试压力，同时减去包装的成本，设置的筛选平台，通过输送设备进行芯片输送，在输送过程中，传动前侧上芯片结构，将待测定的芯片依次输送经过扫描设备，无需测试人员手动上芯片和分类，极大提高了筛选效率。率。率。