李志宏 孟卓译 天津大学精仪学院
摘要：
本文主要阐述了一种使用二态磁光偏振旋转波片来精确地测量偏振相关参数，包括偏振模散和偏振相关损耗。利用旋转波片的二态性质，我们可测得从1480nm到1620nm波段上的DGD,SOPMD和PDL，测得的精度分别在司礼监2.6fs，1.39ps2，和0.06dB；重复性分别在1fs，0.005ps2和0.01dB徒手画。
1、 引言：
随着光通讯系统的传输比特率从10Gb，40Gb到100Gb，甚至更高方向发展，偏振相关参数对系统性能的影响越来越大。与偏振相联系的损害如偏振模散（PMD）偏振相关损耗退化了系统的性能并造成系统不能运行。另一方面，使用更小带宽通过波分复用与解调技术能实现偏振态相垂直的两信号同时传输，加倍速率传输，实现高速率传输。最后，对于40Gb和100Gb系统中最关键的相干检测部分也需要依赖于精确的偏振管理来完成。因此，对于各元
件和系统的所有偏振相关参数的快速，精确测量的需求变得相当紧迫。
到目前为止，光偏振相关测量主要依赖于模拟技术，包括旋转相位延迟器，旋转偏振器，液晶单元，相位调制器和四探测器法。然而，为了达到高精度测量，模拟技术将面临着低重复性和复杂的补偿技术的缺点。相比之下，近来发表的基于二态的铁电液晶的偏振分析在一定程度上更具优势。
mdi文件在之前我们发表的一篇文章中，描述了采用二态磁光偏振旋转波片成功研制的一种二态的偏振态发生器（PSG），此仪器能以优于0.1度的重复精度在邦加球上产生5或6种特定偏振态。随后，我们又发表了一篇基于同样二态偏振旋转波片而研制的，具有高精度自动校正的偏振态分析仪。这两篇文献中指出采用李忠瑞种子PSG-PSA组合能精确地测量光学元件的偏振相关损耗，偏振模散，相位延迟和双折射。本文详细的介绍了使用PSG-PSA两测品为构件的组成原理，并通过实验数据验证了该装置的精确性和重复性。为了确定此二态测量系统的精度，我们设计并构造了一系列的已知PMD和PDL值的检测产品用于验证测量结果。然后通过多组PMD和PDL测量决定此方法的分辨率，精确性和可重复性。最后得出其测量精度分别表现为PMD 2.6fs，SOPMD1.39ps2和PDL0.06dB；重复性分别表现为PMD0.022fs，
SOPMD0.28ps2和0.034dB；分辨率为hrb400PMD1fs，SOPMD0.005ps2星天牛和0.01dB，因此在光纤特性检测，光学元件测量和光学元件生产方面，二态技术具有广泛的应用前景。本文的最后介绍了二态测量系统在其它方面的应用，如偏振消光比的测量和保偏光纤拍长测量。
