nand老化
测试可参数化配置的方法、装置、
计算机设备及存储介质
技术领域
1.本发明涉及nand老化测试技术领域,尤其是指nand老化测试可参数化配置的方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术:
2.目前主流的固态硬盘(ssd)基本都有nand老化测试方案,为了对nand的使用寿命进行监控和测试,以便有效筛选出不合格产品,避免在后续封装以及使用过程中造成不必要的经济损失。主流ssd采取的方案是对整个nand老化测试,包括dram自检,但是nand的tlc/slc擦写读是固化的,不能实现参数化配置,影响了nand老化测试效率。
技术实现要素:
3.本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供nand老化测试可参数化配置的方法、装置、计算机设备及存储介质。
4.为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
5.第一方面,本实施例提供了一种nand老化测试可参数化配置的方法,包括以下步骤:
6.配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor
闪存中;
7.上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
8.其进一步技术方案为:
所述配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中步骤中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。
9.其进一步技术方案为:所述上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果步骤中,还包括:当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试。
10.其进一步技术方案为:所述上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果步骤之后,还包括:将老化测试结果保存到nand闪存中。
11.第二方面,本实施例提供了一种nand老化测试可参数化配置的装置,包括:配置写入单元和读取执行单元;
12.所述配置写入单元,用于配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;
13.所述读取执行单元,用于上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
14.其进一步技术方案为:所述配置写入单元中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。
15.其进一步技术方案为:所述读取执行单元中,当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试。
16.其进一步技术方案为:还包括:保存单元,用于将老化测试结果保存到nand闪存中。
17.第三方面,本实施例提供了一种计算机设备,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的nand老化测试可参数化配置的方法。
18.第四方面,本实施例提供了一种存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的nand老化测试可参数化配置的方法。
19.本发明与现有技术相比的有益效果是:通过配置文件config.ini中的testcase来实现nand老化测试可参数化配置,提高了nand老化测试效率。
20.下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
21.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1为本发明实施例提供的nand老化测试可参数化配置的方法的流程示意图;
23.图2为本发明实施例提供的nand老化测试可参数化配置的方法的应用场景示意图一;
24.图3为本发明实施例提供的nand老化测试可参数化配置的方法的应用场景示意图二;
25.图4为本发明实施例提供的nand老化测试可参数化配置的装置的示意性框图;
26.图5为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
27.下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
28.应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
29.还应当理解,在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
30.还应当进一步理解,在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是
指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
31.请参阅图1所示的具体实施例,本发明公开了一种nand老化测试可参数化配置的方法,包括以下步骤:
32.s1,配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase(测试用例)写入到nor闪存中;
33.具体地,在s1步骤中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。
34.s2,上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
35.具体地,在s2步骤中,还包括:当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试,提高了nand老化测试效率。
36.具体地,当完成老化测试时会将flag清0,此时老化测试结束,否则flag为1,则继续执行老化测试。
37.具体地,在s2步骤之后,还包括:将老化测试结果保存到nand闪存中。
38.具体地,在ft2阶段会获取老化测试结果看是否有新增坏块。
39.请参阅图2至图3所示,device在ft1、ft2阶段是一个被动体,它只提供相关命令,至于命令的执行先后顺序,device端不做假设,一切都是由host端通过uart/sata/nvme来完成量产开卡;bist阶段通过ft1阶段将测试项写入到nor flash(闪存)中,mploader上电读取nor中testcase自动执行相关测试,host端的ft1/2命令顺序是根据量产流程定下来的,相关的顺序最终体现在config.ini文件中,uart cmdline(串口命令行)用于接收处理host端测试命令,用于ft1,ft2期间的相关测试项;uart cmdline在cmdline_app.c中,注册了用于量产测试的命令,以及规范了和主机端的命令交互格式,它将接收到的host端测试命令转换成内部fe_cmd,用于内部正确处理相关host请求。
40.本发明通过配置文件config.ini中的testcase来实现nand老化测试可参数化配置,提高了nand老化测试效率。
41.请参阅图4所示,本发明还公开了一种nand老化测试可参数化配置的装置,包括:配置写入单元10和读取执行单元20;
42.所述配置写入单元10,用于配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;
43.所述读取执行单元20,用于上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
44.其中,所述配置写入单元10中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。
45.其中,所述读取执行单元20中,当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试。
46.其中,该装置还包括:保存单元,用于将老化测试结果保存到nand闪存中。
47.需要说明的是,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,上述nand老化测试可参数化配置的装置和各单元的具体实现过程,可以参考前述方法实施例中的相应描述,为了描述的方便和简洁,在此不再赘述。
48.上述nand老化测试可参数化配置的装置可以实现为一种计算机程序的形式,该计算机程序可以在如图5所示的计算机设备上运行。
49.请参阅图5,图5是本技术实施例提供的一种计算机设备的示意性框图;该计算机设备500可以是终端,也可以是服务器,其中,终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器,也可以是多个服务器组成的服务器集。
50.参阅图5,该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505,其中,存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
51.该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令,该程序指令被执行时,可使得处理器502执行一种nand老化测试可参数化配置的方法。
52.该处理器502用于提供计算和控制能力,以支撑整个计算机设备500的运行。
53.该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境,该计算机程序5032被处理器502执行时,可使得处理器502执行一种nand老化测试可参数化配置的方法。
54.该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解,图5中示出的结构,仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图,并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备500的限定,具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
55.其中,所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032,以实现如下步骤:
56.步骤s1,配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;
57.步骤s2,上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
58.应当理解,在本技术实施例中,处理器502可以是中央处理单元(central processing unit,cpu),该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现成可编程门阵列(field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中,通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
59.本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令,计算机程序可存储于一存储介质中,该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行,以实现上述方法的实施例的流程步骤。
60.因此,本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序,其中计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的nand老化测试可参数化配置的方法。该存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的方法。该程序指
令包括以下步骤:
61.步骤s1,配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;
62.步骤s2,上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。
63.所述存储介质可以是u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory,rom)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
64.本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
65.在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如,各个单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。
66.本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
67.该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分,或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,终端,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
68.上述实施例为本发明较佳的实现方案,除此之外,本发明还可以其它方式实现,在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
技术特征:
1.nand老化测试可参数化配置的方法,其特征在于,包括以下步骤:配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。2.根据权利要求1所述的nand老化测试可参数化配置的方法,其特征在于,所述配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中步骤中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。3.根据权利要求1所述的nand老化测试可参数化配置的方法,其特征在于,所述上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果步骤中,还包括:当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试。4.根据权利要求1所述的nand老化测试可参数化配置的方法,其特征在于,所述上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果步骤之后,还包括:将老化测试结果保存到nand闪存中。5.nand老化测试可参数化配置的装置,其特征在于,包括:配置写入单元和读取执行单元;所述配置写入单元,用于配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项testcase写入到nor闪存中;所述读取执行单元,用于上电读取nor闪存中的测试项testcase并执行老化测试,以获得老化测试结果。6.根据权利要求5所述的nand老化测试可参数化配置的装置,其特征在于,所述配置写入单元中,配置文件config.ini指的是由host端通过uart/sata/nvme来完成文件config.ini的配置。7.根据权利要求5所述的nand老化测试可参数化配置的装置,其特征在于,所述读取执行单元中,当执行老化测试过程中,异常掉电后,再重新上电可继续执行当前老化测试。8.根据权利要求5所述的nand老化测试可参数化配置的装置,其特征在于,还包括:保存单元,用于将老化测试结果保存到nand闪存中。9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的nand老化测试可参数化配置的方法。10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的nand老化测试可参数化配置的方法。
技术总结
本发明涉及NAND老化测试可参数化配置的方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法,包括:配置文件config.ini,并将文件config.ini中的测试项TestCase写入到NOR闪存中;上电读取NOR闪存中的测试项TestCase并执行老化测试,以获得老化测试结果。本发明通过配置文件config.ini中的TestCase来实现NAND老化测试可参数化配置,提高了NAND老化测试效率。提高了NAND老化测试效率。提高了NAND老化测试效率。
技术研发人员:
蔡辉 罗宗扬 宗名扬
受保护的技术使用者:
苏州忆联信息系统有限公司
技术研发日:
2022.08.02
技术公布日:
2022/9/23