姓名: 热升华转印纸 | ________________________ |
部门: | ________________________ |
员工编号: | ________________________ |
A、湿度敏感等级试验(正确答案) |
B、恒温恒湿试验 |
C、高温存储实验 |
D、低温存储实验 |
A、进行 MSL 检测的样品,应是通过电测的好品 |
B、Bake 的目的是去除样品中的水汽 |
C、经过 Reflow 后的样品是否发生分层,应通过 X-RAY 进行确认(正确答案) |
D、分层发生在 200℃ 以上的回流焊过程中 |
A、60℃/ 60%RH/ 40hours |
B、30℃/ 60%RH/ 192hours |
C、85℃/ 85%RH/ 168hours0663.us(正确答案) |
D、85℃/ 60%RH/ 168hours(正确答案) |
A、15 minites ~ 4 hours(正确答案) |
B、15 mins |
C、4 hours |
D、没要求 |
A、Bake 时间最多 24hours |
B、Bake 温度最高 125℃ |
C、Bake 中断 10mins,不影响出炉时间(正确答案) |
D、Bake 的目的是去除封装材料中的水汽(正确答案) |
A、E-test 失效 |
B、40X 目镜发现外观裂纹 |
C、Pad 面出现分层 |
D、Die attach 区域出现 8% 的分层或裂纹(正确答案) |
A、Pre Etest 是 MSL 第一步,目的是筛除不良品进行后续实验 |
B、初始检查包括外观检查和超声波检查,目的是收集参考数据 |
C、X-RAY 检测目的是确认样品内部是否有分层(正确答案) |
D、Evaluation 需要基于 Post Etest、外观、C-SAM、X-RAY 等结果进行综合判断 |
A、< 30 seconds |
B、> 30 seconds(正确答案) |
C、> 25 seconds |
D、< 25 seconds |
A、C-scan 是透射扫描,可以看到整个样品不同层的分层情况(正确答案) |
B、探头频率越大,探测精度越高 |
C、A-scan 波形中,样品波形位于两个透镜回波之间 |
D、如果样品内部有分层,A-scan 波形会出现负波 |
A、Die 表面 |
B、样品表面 |
C、trace 层(正确答案) |
D、基板 |
A、粗糙的样品表面有利于超声波探测 |
B、超声波是利用声阻的变化来成像的(正确答案) |
C、探头频率越低,穿透性越差 |
D、探头频率越低,分辨率越好 |
A、高频率探头分辨率高,穿透率高 |
B、高频率探头分辨率低,穿透率低 |
C、高频率探头分辨率高,穿透率低(正确答案) |
D、低频率探头分辨率低,穿透率高(正确答案) |
A、C-SAM |
B、显微镜 |
C、X-RAY(正确答案) |
D、扫描电镜 |
A、佩戴计量笔(正确答案) |
B、设备运行时操作人员可离开设备 |
C、每个人都可以操作 |
D、可以不佩戴计量笔 |
A、96 |
B、48 |
C、144 |
D、168(正确答案) |
A、125℃ |
B、150℃(正确答案) | 电极片
C、110℃ |
D、以上都对 |
本文发布于:2023-05-22 23:16:04,感谢您对本站的认可!
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