同轴度测量仪

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著录项
  • CN88214919.9
  • 19881020
  • CN2034264
  • 19890315
  • 北京红旗机械厂
  • 王斌;李永光;班显荣
  • G01B11/27
  • G01B11/27

  • 北京市236信箱
  • 中国,CN,北京(11)
  • 国家机械委军工专利事务所
  • 王长春
摘要
本实用新型涉及一种同轴度测量仪,这是一种利用光学原理的检测两个对应轴之间的角度偏差和平行错移量的测量系统。该测量仪主要包括一个激光发射和接收装置、一个激光反射装置和一个数据处理装置。本实用新型的特点是提供一种导向装置,该导向装置有一个导向体,导向体上安装有两个卡头,这两个卡头可以分别卡在激光发射和接收装置与激光反射装置上,从而便于使激光发射和接收装置与激光反射装置对齐,从而节省调节时间并有助于提高测量精度。
权利要求

1、一种同轴度测量仪,用于检测两个对应轴(1、2)之间的角度偏差和平行错移量,主要包括一个激光发射和接收装置(3)、一个激光反射装置(4)和一个数据处理装置(8),本实用新型的特点在于有一个导向装置,该导向装置有一个导向体(5),导向体(5)上安装有两个卡头(6、7),这两个卡头(6、7)可以分别卡在激光发射和接收装置(3)与激光反射装置(4)上,从而便于使激光发射和接收装置(3)与激光反射装置(4)对齐,并有助于提高测量精度。

2、按权利要求1所述的同轴度测量仪,其特点在于导向体(5)上有长度刻度。

说明书
技术领域

本发明涉及一种同轴度测量仪,这是一种利用光学原理的检测两个对应轴之间的角度偏差和平行错移量的测量系统。

联邦德国专利DE3419059首先提出了这种同轴度测量仪的基本原理。它主要包括一个卡在被测轴上的激光发射和接收装置、一个卡在另一被测轴上的激光反射装置和一个数据处理装置。激光发射和接收装置内的激光器发出激光,射到激光反射装置上,然后折回激光发射和接收装置内的光敏元件上,从而定出折回的激光的座标。当激光发射和接收装置与激光反射装置同时绕轴线转动时,由于两轴轴心的偏移,折回的激光的座标也相应地变化。激光发射和接收装置会把这些变化的信号输入数据处理装置。再把激光发射和接收装置与激光反射装置之间的距离等有关数据输入数据处理装置后,该数据处理装置就能算出被测轴之间的角度偏差和平行错移量以及其它所求的数据。

为了保证测量精度,在测量之前,首先要使激光发射和接收装置与激光反射装置对齐。现有的联邦德国生产的同类产品完全是用调节的方法实现对齐的。这种调节的方法比较费时,而且当激光发射和接收装置与激光反射装置绕轴线转动后,还需要作适当的调节使它们重新对齐。

本发明提供一种导向装置。这种导向装置可以简化上述调节过程,并且在激光发射和接收装置与激光反射装置绕轴线转动,可以使它们自动对齐。

该导向装置有一个导向体,导向体上安装有两个卡头,这两个卡头可以分别卡在激光发射和接收装置与激光反射装置上,从而便于使激光发射和接收装置与激光反射装置对齐,并有助于提高测量精度。

该导向装置的导向体上还可以标出长度刻度,以便于读出激光发射和接收装置与激光反射装置之间的距离。

本发明的具体结构由以下的实施例及其附图给出。

附图所示是本发明所提出的导向装置及同轴度测量仪的基本结构。

激光发射与接收装置(3)与激光反射装置(4)分别卡在被测轴(1、2)上,数据处理装置(8)通过导线与激光发射和接收装置(3)相联系。导向装置的导向体(5)上安装有两个卡头(6、7),这两个卡头可以分别卡在激光发射和接收装置(3)与激光反射装置(4)上,从而便于使激光发射和接收装置(3)与激光反射装置(4)对齐。导向体(5)上标有长度刻度,利用该刻度可以读出激光发射和接收装置(3)与激光反射装置(4)之间的距离。

导向体(5)与两个卡头(6、7)之间具有动配合的关系。

本文发布于:2023-03-27 00:13:37,感谢您对本站的认可!

本文链接:https://patent.en369.cn/patent/3/80168.html

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