一种二极管封装分类检测设备的制作方法

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1.本发明涉及二极管检测技术领域，尤其涉及一种二极管封装分类检测设备。

背景技术：

2.发光二极管，简称为led，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛，发光二极管在进行封装之前，要对其性能进行检测，对其两个引脚通电，检测其是否发光。
3.经检索，中国专利公开号为cn213934094u的专利，公开了一种发光二极管检测装置，包括电源以及检测模块，电源为可调电压电源，电源包括第一电极以及第二电极，第一电极与第二电极极性相反；检测模块包括承载板以及检测单元，检测单元设置在承载板上，检测单元包括第一顶针、第二顶针以及电阻，第一顶针的第一端以及第二顶针的第一端通过导线分别与第一电极以及第二电极连接，第一顶针的第二端以及第二顶针的第二端均设有针头，第一顶针的针头与第二顶针的针头相对设置，并用于连接发光二极管的两端以形成检测回路，电阻设置于检测回路上，检测单元设有若干组，检测单元之间并联。
4.上述专利存在以下不足：其需要人工将二极管的引脚与顶针接触对齐，无法实现自动上料的功能，导致整个检测过程效率较低。

技术实现要素：

5.本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种二极管封装分类检测设备。
6.为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
7.一种二极管封装分类检测设备，包括工作台，所述工作台的顶部外壁通过主轴转动连接有载盘，载盘的内壁开设有容纳限位二极管的阶梯槽，且所述载盘的一侧设置有上料机构，上料机构的另一侧设置有检测机构，
8.所述上料机构包括固定安装于工作台顶部外壁的震动上料盘和通过转轴转动连接于工作台顶部的转杆；
9.所述震动上料盘的出口处固定安装有导向滑道，工作台的顶部外壁通过滑架滑动连接有两个挡杆，转杆的两端均开设有腰型孔，挡杆通过柱销活动插接于腰型孔的内壁。
10.优选地：所述导向滑道为倾斜向下布置。
11.进一步地：所述主轴与转轴的底部均设置有驱动件。
12.在前述方案的基础上：所述检测机构包括滑块一和检测电极，所述检测电极固定于滑块一的侧壁，所述滑块一的底部滑动连接有直线滑轨，直线滑轨通过支撑腿固定于工作台的顶部外壁。
13.在前述方案中更佳的方案是：所述检测电极为两个布置，且其高度、长度均不同。
14.作为本发明进一步的方案：所述检测电极串联有电源与电子电流计，所述电子电流计控制连接有上位机。
15.同时，所述工作台的顶部设置有分类下料机构，所述分类下料机构包括固定安装于工作台顶部外壁的支撑弧架，固定于下游位置的固定限位板以及滑动连接于支撑弧架上游位置的活动限位板。
16.作为本发明的一种优选的：所述工作台的顶部外壁固定安装有电动伸缩器，电动伸缩器的伸缩端固定安装于活动限位板的外壁。
17.同时，所述电动伸缩器控制连接于上位机。
18.作为本发明的一种更优的方案：所述主轴的外壁固定安装有传动盘，传动盘的内壁开设有限位槽，限位槽对应所述阶梯槽的位置均设置有凹陷，所述滑块一的一侧外壁通过连接杆连接有滑块二，滑块二通过限位柱活动配合于限位槽。
19.本发明的有益效果为：
20.1.本发明，通过设置上料机构，其以震动上料盘为基础，再经过两个挡杆的不同限位，即可实现二极管的单个上料功能，从而解决了人工上料的效率低、精确度低等问题。
21.2.本发明，通过设置高度长度均不同的检测电极作为检测媒介，巧妙利用发光二极管的正负极引脚不同的特点，实现了二极管的自动定位，即正负极区分工作，从而保障检测工作的可靠进行。
22.3.本发明，通过设置活动限位板与固定限位板，其能通过上位机的信号控制活动限位板是否限位，从而实现了二极管检测后的残次品与非残次品的自动分类功能。
23.4.本发明，通过设置限位槽、凹陷以及限位柱，其能将检测电极的驱动力综合集成至载盘的旋转动力处，一方面提高了装置的同步性，保证各部件配合较为可靠，另一方面也节省了动力布置。
附图说明
24.图1为本技术的主视结构示意图；
25.图2为本技术的上料机构结构示意图；
26.图3为本技术的检测机构结构示意图；
27.图4为本技术的实施例2结构示意图；
28.图5为本技术的电路结构示意图；
29.图6为本技术的分类下料机构结构示意图。
30.图中：1、工作台；2、检测机构；3、主轴；4、分类下料机构；5、载盘；6、上料机构；7、阶梯槽；8、腰型孔；9、转轴；10、转杆；11、震动上料盘；12、导向滑道；13、挡杆；14、支撑腿；15、直线滑轨；16、滑块一；17、检测电极；18、传动盘；19、限位槽；20、凹陷；21、滑块二；22、限位柱；23、连接杆；24、电源；25、电子电流计；26、电动伸缩器；27、上位机；28、活动限位板；29、固定限位板；30、支撑弧架。
具体实施方式
31.下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
32.下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。
33.实施例1：
34.一种二极管封装分类检测设备，如图1-6所示，包括工作台1，所述工作台1的顶部外壁通过主轴3转动连接有载盘5，载盘5的内壁开设有容纳限位二极管的阶梯槽7，且所述载盘5的一侧设置有上料机构6，上料机构6的另一侧设置有检测机构2；上料机构6可将二极管上料至载盘5的阶梯槽7内限位，随后载盘5旋转，将二极管带动至检测机构2处，检测机构2再对其检测，从而进行自动上料检测。
35.所述上料机构6包括通过螺栓固定于工作台1顶部外壁的震动上料盘11和通过转轴9转动连接于工作台1顶部的转杆10，本实施例中，对震动上料盘11的具体类型与结构不做细致描述，利用振动盘对二极管实现振动上料为现有技术，已有相关授权专利，本实施例未对其进行创造性劳动和改进，故不做赘述。
36.所述震动上料盘11的出口处通过螺栓固定有导向滑道12，工作台1的顶部外壁通过滑架滑动连接有两个挡杆13，转杆10的两端均开设有腰型孔8，挡杆13通过柱销活动插接于腰型孔8的内壁。
37.所述导向滑道12为倾斜向下布置。
38.所述主轴3与转轴9的底部均设置有驱动件，本实施例优选的，所述驱动件均为电机，其壳体固定于工作台1的底部，其输出轴通过联轴器连接于主轴3、转轴9。
39.震动上料盘11可通过震动以及其内的滑道将二极管逐个排队上提，通过导向滑道12滑出，上料时，转轴9转动，位于上游的挡杆13插入相邻二极管的间隙内，位于下游的挡杆13抽出，接触限位，从而将最端部的二极管滑落至载盘5的阶梯槽7内，完成上料，随后，转轴9反转，位于上游的挡杆13抽出，二极管继续滑落。
40.本装置，通过设置上料机构6，其以震动上料盘11为基础，再经过两个挡杆13的不同限位，即可实现二极管的单个上料功能，从而解决了人工上料的效率低、精确度低等问题。
41.为了解决检测问题；如图3所示，所述检测机构2包括滑块一16和检测电极17，所述检测电极17固定于滑块一16的侧壁，所述滑块一16的底部滑动连接有直线滑轨15，直线滑轨15通过支撑腿14固定于工作台1的顶部外壁。
42.所述检测电极17为两个布置，且其高度、长度均不同，分别对应二极管两个引脚的端部位置。
43.当二极管进入阶梯槽7限位时，载盘5转动，其将二极管带动至检测电极17处，此时滑块一16带动检测电极17向二级管处滑移，再利用二极管正负极引脚长度不同的特点，利用两个检测电极17分别接触不同的引脚，进行接通。
44.由于阶梯槽7仅能对二极管的高度限位，二极管可相对阶梯槽7发生自转，而当较长的检测电极17接触引脚时，无论引脚位于何处，其继续靠近时，均会对引脚施加作用力，从而通过该作用力促使二极管发生自转，最终其较长引脚会位于最内侧，较短引脚相应位于最外侧，从而配合长度不同的检测电极17进行接通检测。
45.所述检测电极17串联有电源24与电子电流计25，所述电子电流计25控制连接有上位机27。
46.当两个检测电极17分别接触二极管的两个引脚时，其所处的电路处于连通状态，从而电子电流计25具有电流并产生读数，从而将电流信号传递至上位机27，依次作为二极
管是否连通，从而达到检测目的。
47.本装置，通过设置高度长度均不同的检测电极17作为检测媒介，巧妙利用发光二极管的正负极引脚不同的特点，实现了二极管的自动定位，即正负极区分工作，从而保障检测工作的可靠进行。
48.为了解决分类下料问题，如图1、6所示，所述工作台1的顶部设置有分类下料机构4，所述分类下料机构4包括通过螺栓固定于工作台1顶部外壁的支撑弧架30，固定于下游位置的固定限位板29以及滑动连接于支撑弧架30上游位置的活动限位板28，所述工作台1的顶部外壁通过螺栓固定有电动伸缩器26，电动伸缩器26的伸缩端通过螺栓固定于活动限位板28的外壁，且电动伸缩器26控制连接于上位机27，当上位机27未收到电流信号时，此时二极管是残次品，上位机27控制电动伸缩器26伸出，带动活动限位板28伸出，载盘5转动时，即可通过活动限位板28限位将残次二极管向外侧推出，在其下设置相应的收集箱即可对残次品收集，否则，载盘5带动非残次品继续转动，转动至固定限位板29处时，再经过固定限位板29限位进行下料收集，从而实现分类功能。
49.本装置，通过设置活动限位板28与固定限位板29，其能通过上位机27的信号控制活动限位板28是否限位，从而实现了二极管检测后的残次品与非残次品的自动分类功能。
50.本实施例在使用时,震动上料盘11可通过震动以及其内的滑道将二极管逐个排队上提，通过导向滑道12滑出，上料时，转轴9转动，位于上游的挡杆13插入相邻二极管的间隙内，位于下游的挡杆13抽出，接触限位，从而将最端部的二极管滑落至载盘5的阶梯槽7内，完成上料，随后，转轴9反转，位于上游的挡杆13抽出，二极管继续滑落，当二极管进入阶梯槽7限位时，载盘5转动，其将二极管带动至检测电极17处，此时滑块一16带动检测电极17向二级管处滑移，再利用二极管正负极引脚长度不同的特点，利用两个检测电极17分别接触不同的引脚，当两个检测电极17分别接触二极管的两个引脚时，其所处的电路处于连通状态，从而电子电流计25具有电流并产生读数，从而将电流信号传递至上位机27，依次作为二极管是否连通，从而达到检测目的，当上位机27未收到电流信号时，此时二极管是残次品，上位机27控制电动伸缩器26伸出，带动活动限位板28伸出，载盘5转动时，即可通过活动限位板28限位将残次二极管向外侧推出，在其下设置相应的收集箱即可对残次品收集，否则，载盘5带动非残次品继续转动，转动至固定限位板29处时，再经过固定限位板29限位进行下料收集，从而实现分类功能。
51.实施例2：
52.一种二极管封装分类检测设备，如图4所示，为了解决动力与同步性问题；本实施例在实施例1的基础上作出以下改进：所述主轴3的外壁焊接有传动盘18，传动盘18的内壁开设有限位槽19，限位槽19对应所述阶梯槽7的位置均设置有凹陷20，所述滑块一16的一侧外壁通过连接杆23连接有滑块二21，滑块二21通过限位柱22活动配合于限位槽19。
53.本实施例在使用时,当载盘5带动阶梯槽7转动至检测电极17位置时，同时限位槽19的凹陷20对限位柱22限位，使其向内侧移动，从而带动滑块二21以及滑块一16向内侧移动，实现检测电极17的移动。
54.本装置，通过设置限位槽19、凹陷20以及限位柱22，其能将检测电极17的驱动力综合集成至载盘5的旋转动力处，一方面提高了装置的同步性，保证各部件配合较为可靠，另一方面也节省了动力布置。
55.以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

技术特征：

1.一种二极管封装分类检测设备，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)的顶部外壁通过主轴(3)转动连接有载盘(5)，载盘(5)的内壁开设有容纳限位二极管的阶梯槽(7)，且所述载盘(5)的一侧设置有上料机构(6)，上料机构(6)的另一侧设置有检测机构(2)，所述上料机构(6)包括固定安装于工作台(1)顶部外壁的震动上料盘(11)和通过转轴(9)转动连接于工作台(1)顶部的转杆(10)；所述震动上料盘(11)的出口处固定安装有导向滑道(12)，工作台(1)的顶部外壁通过滑架滑动连接有两个挡杆(13)，转杆(10)的两端均开设有腰型孔(8)，挡杆(13)通过柱销活动插接于腰型孔(8)的内壁。2.根据权利要求1所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述导向滑道(12)为倾斜向下布置。3.根据权利要求1所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述主轴(3)与转轴(9)的底部均设置有驱动件。4.根据权利要求1所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述检测机构(2)包括滑块一(16)和检测电极(17)，所述检测电极(17)固定于滑块一(16)的侧壁，所述滑块一(16)的底部滑动连接有直线滑轨(15)，直线滑轨(15)通过支撑腿(14)固定于工作台(1)的顶部外壁。5.根据权利要求4所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述检测电极(17)为两个布置，且其高度、长度均不同。6.根据权利要求4所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述检测电极(17)串联有电源(24)与电子电流计(25)，所述电子电流计(25)控制连接有上位机(27)。7.根据权利要求4所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述工作台(1)的顶部设置有分类下料机构(4)，所述分类下料机构(4)包括固定安装于工作台(1)顶部外壁的支撑弧架(30)，固定于下游位置的固定限位板(29)以及滑动连接于支撑弧架(30)上游位置的活动限位板(28)。8.根据权利要求7所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述工作台(1)的顶部外壁固定安装有电动伸缩器(26)，电动伸缩器(26)的伸缩端固定安装于活动限位板(28)的外壁。9.根据权利要求8所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述电动伸缩器(26)控制连接于上位机(27)。10.根据权利要求9所述的一种二极管封装分类检测设备，其特征在于，所述主轴(3)的外壁固定安装有传动盘(18)，传动盘(18)的内壁开设有限位槽(19)，限位槽(19)对应所述阶梯槽(7)的位置均设置有凹陷(20)，所述滑块一(16)的一侧外壁通过连接杆(23)连接有滑块二(21)，滑块二(21)通过限位柱(22)活动配合于限位槽(19)。

技术总结

本发明公开了一种二极管封装分类检测设备，涉及二极管检测技术领域；为了解决人工上料问题；具体包括工作台，所述工作台的顶部外壁通过主轴转动连接有载盘，载盘的内壁开设有容纳限位二极管的阶梯槽，且所述载盘的一侧设置有上料机构，上料机构的另一侧设置有检测机构，所述上料机构包括固定安装于工作台顶部外壁的震动上料盘和通过转轴转动连接于工作台顶部的转杆，所述震动上料盘的出口处固定安装有导向滑道，工作台的顶部外壁通过滑架滑动连接有两个挡杆。本发明通过设置上料机构，其以震动上料盘为基础，再经过两个挡杆的不同限位，即可实现二极管的单个上料功能，从而解决了人工上料的效率低、精确度低等问题。精确度低等问题。精确度低等问题。