基于FPGA的NOR Flash抗辐照性能测试系统[发明专利]

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专利名称：基于FPGA的NOR Flash抗辐照性能测试系统专利类型：发明专利

发明人：任获荣，周朋，樊康旗，陈晓龙，刘毅

申请号：CN201510788950.X

申请日：20151117

公开号：CN105280243A

公开日：

20160127

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种基于FPGA的NOR？Flash抗辐照性能测试系统，用于解决现有测试系统测试效率低及安全性差的技术问题，包括通过千兆以太网连接的上位机和下位机；上位机用于发出操作指令、统计测试结果数据及显示测试工作状态；下位机包括用于实现物理层数据收发的千兆以太网芯片、FPGA控制模块、晶体振荡器和程序配置端口，其中FPGA控制模块包括以太网通信模块、指令解析模块、片选信号模块、地址总线驱动模块、控制总线驱动模块、读数据缓存模块和连接端口。本发明能够单次测量一片或者多片NOR？Flash，且上位机远离辐射源，可用于获得辐照环境下NOR？Flash发生错误的几率数据。

申请人：西安电子科技大学

地址：710071 陕西省西安市太白南路2号

国籍：CN

代理机构：陕西电子工业专利中心

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本文发布于:2023-05-06 11:27:47，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://patent.en369.cn/patent/2/89125.html

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