一种固态硬盘调试接口、固态硬盘和调试小板的制作方法

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1.本实用新型涉及固态硬盘调试接口领域，尤其涉及一种固态硬盘调试接口、固态硬盘和调试小板。

背景技术：

2.固态硬盘主要由主控芯片、缓存颗粒和闪存芯片构成。主控芯片是固态硬盘的大脑，其作用一是合理调配数据在各个闪存芯片上的负荷，二则是承担了整个数据中转，连接闪存芯片和外部sata接口。高速的缓存芯片辅助主控芯片进行数据处理。闪存芯片用于存储数据占据固态硬盘主板的大部分位置。
3.目前固态硬盘的尺寸大多是在2.5吋左右，随着固态硬盘的容量需求越来越大，这就导致了固态硬盘主板上的所需器件尤其是闪存芯片的数量越来越多，进而导致ssd硬盘主板器件布局空间异常紧张。但是作为固态硬盘的各种调试接口(比如uart、i2c、jtag、mode跳线等接口)虽不常用却又是必不可少的器件，目前，这部分调试接口都是直接布局在固态硬盘的主板上，占用很大的固态硬盘主板布局空间，限制闪存芯片的数量对开发更大容量的固态硬盘工作造成一定的影响。

技术实现要素：

4.为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本实用新型提供一种固态硬盘调试接口、固态硬盘和调试小板。
5.第一方面，本实用新型提供一种固态硬盘调试接口，包括：设置于固态硬盘主板上的第一typec接口和设置于调试小板上的第二ty pec接口；
6.其中，所述第一typec接口连接所述固态硬盘主板上用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线；
7.所述第二typec接口通过typec连接线与所述第一tpyec接口连接，所述第二typec接口将所述第一typec接口所接uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和mode信号走线分别连接到设置于所述调试小板的uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。
8.更进一步地，所述第一typec接口的b2管脚、b3管脚分别连接所述uart信号走线中的uart_rx走线和uart_tx走线；所述第一typec接口的b8管脚和b11管脚分别连接所述i2c信号走线中的ssmb_sda走线和ssmb_scl走线；所述第一typec接口的a2管脚、a3管脚、a6管脚、a7管脚、a10管脚分别连接所述jtag信号走线中的jtag_tck走线、jtag_tdo走线、jtag_tms走线、jta g_tdi走线和jtag_trst_n走线；所述第一typec接口的a11管脚连接bmode信号走线；所述第一typec接口的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接地；所述第一typec接口的a8管脚接p3v3电源、b10管脚接p1v8电源。
9.更进一步地，所述bmode信号走线上连接用于静电防护tvs管d6。
10.更进一步地，所述第二typec接口的a11管脚、a10管脚分别经debug_uart_rx走线和debug_uart_tx走线连接所述uart接口；所述第二typec接口的a8管脚和a2管脚分别经
debug_ss mb_sda走线和debug_ssmb_scl走线连接所述i2c接口；所述第二typec接口的b11管脚、b10管脚、b6管脚、b7管脚、b3管脚分别经debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debu g_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和debug_jtag_trst_n走线连接所述jtag接口；所述第二typec接口的b2管脚经de bug_bmode信号走线连接所述bmode跳线；所述第二typec接口的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接信号地；所述第二typec接口的b8管脚接p3v3_debug电源、a3管脚接p1v8_debug电源。
11.更进一步地，所述debug_jtag_tck走线、debug_jtag_td o走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和deb ug_jtag_trst_n走线分别经电阻耦合于所述jtag接口的5号管脚、3号管脚、10号管脚、1号管脚和14号管脚，其中，所述debu g_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线分别经上拉电阻连接p1v8_debug电源，所述debug_jtag_trst_n走线经下拉电阻接地；所述jtag接口的2号管脚、4号管脚、6号管脚、12号管脚接地，11号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。
12.更进一步地，所述bmode跳线的2号管脚连接所述debug_bmode信号走线，所述bmode跳线的1号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。
13.更进一步地，所述uart接口的1号管脚连接p3v3_debug电源、2号管脚接地、3号管脚和4号管脚分别连接所述debug_uart_tx走线和debug_uart_rx走线。
14.更进一步地，所述i2c接口的3号管脚和1号管脚分别连接deb ug_ssmb_sda走线和debug_ssmb_scl走线，2号管脚和10号管脚接地。
15.第二方面，本实用新型提供一种固态硬盘，所述固态硬盘的固态硬盘主板上配置用于替代uart接口、i2c接口、jtag接口和bmo de跳线的第一typec接口，所述第一typec接口连接所述固态硬盘主板上的用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线。
16.第三方面，本实用新型提供一种调试小板，所述调试小板配置包括：第二typec接口、uart接口、i2c接口、jtag接口和bmod e跳线，所述第二typec接口连接所述uart接口、i2c接口、jta g接口和bmode跳线。
17.本实用新型实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
18.本实用新型在固态硬盘主板上配置体积更小、管脚更多的第一typec接口来汇总用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线，通过第一typec接口取代原固态硬盘上的uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线，能够有效的释放固态硬盘主板上的空间。本实用新型提供配置第二typec接口、uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线的调试小板，所述第二typec接口连接所述uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。通过所述第二typec接口连接所述第一typec接口，将汇总的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线分别连接相应的接口，测试时连接相应的接口进行测试。
附图说明
19.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。
20.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例
或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1为本实用新型实施例提供的一种固态硬盘调试接口的示意图；
22.图2为本实用新型实施例提供的第一typec接口的示意图；
23.图3为本实用新型实施例提供的第二typec接口的示意图；
24.图4为本实用新型实施例提供的jtag接口的示意图；
25.图5为本实用新型实施例提供的bmode跳线的示意图；
26.图6为本实用新型实施例提供的uart接口的示意图；
27.图7为本实用新型实施例提供的i2c接口的示意图；。
28.图中标号及含义如下：
29.1、固态硬盘主板，11、第一typec接口，12、固态硬盘u.2接口，2、调试小板，21、uart接口，22、i2c接口，23、bmode跳线，24、jtag接口，25、第二typec接口。
具体实施方式
30.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
31.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
32.实施例1
33.参阅图1所示，本实用新型提供一种固态硬盘调试接口，包括：设置于固态硬盘主板1上的第一typec接口11和设置于调试小板2上的第二typec接口25；
34.其中，所述第一typec接口11连接所述固态硬盘主板上用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线；具体实施过程中，参阅图2所示，所述第一typec接口11的b2管脚、b3管脚分别连接所述uart信号走线中的uart_rx走线和uart_tx走线；所述第一typec接口11的b8管脚和b11管脚分别连接所述i2c信号走线中的ssmb_sda走线和ssmb_scl走线；所述第一typec接口11的a2管脚、a3管脚、a6管脚、a7管脚、a10管脚分别连接所述jtag信号走线中的jtag_tck走线、jtag_tdo走线、jtag_tms走线、jtag_tdi走线和jtag_trst_n走线；所述第一typec接口11的a11管脚连接bmode信号走线，所述bmode信号走线上连接用于静电防护tvs管d6；所述第一typec接口11的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接地；所述第一typec接口11的a8管脚接p3v3电源、b10管脚接p1v8电源。
35.所述第二typec接口25通过typec连接线与所述第一tpyec接口11连接，所述第二typec接口25将所述第一typec接口11所接uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和mode信号走线分别连接到设置于所述调试小板的uart接口21、i2c接口22、jtag接口24和
bmode跳线23。
36.具体实施过程中，参阅图3所示，所述第二typec接口25的a11管脚、a10管脚分别经debug_uart_rx走线和debug_uart_tx走线连接所述uart接口21；所述第二typec接口25的a8管脚和a2管脚分别经debug_ssmb_sda走线和debug_ssmb_scl走线连接所述i2c接口22；所述第二typec接口25的b11管脚、b10管脚、b6管脚、b7管脚、b3管脚分别经debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和debug_jtag_trst_n走线连接所述jtag接口24；所述第二typec接口25的b2管脚经debug_bmode信号走线连接所述bmode跳线23；所述第二typec接口25的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接信号地；所述第二typec接口25的b8管脚接p3v3_debug电源、a3管脚接p1v8_debug电源。
37.参阅图4所示，所述debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和de bug_jtag_trst_n走线分别经电阻耦合于所述jtag接口24的5号管脚、3号管脚、10号管脚、1号管脚和14号管脚，其中，所述debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线分别经上拉电阻连接p1v8_deb ug电源，所述debug_jtag_trst_n走线经下拉电阻接地；所述jtag接口24的2号管脚、4号管脚、6号管脚、12号管脚接地，11号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。
38.参阅图5所示，所述bmode跳线23的2号管脚连接所述debu g_bmode信号走线，所述bmode跳线23的1号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。
39.参阅图6所示，所述uart接口21的1号管脚连接p3v3_debu g电源，2号管脚接地，3号管脚和4号管脚分别连接所述debug_uart_tx走线和debug_uart_rx走线。
40.参阅图7所示，所述i2c接口22的3号管脚和1号管脚分别连接debug_ssmb_sda走线和debug_ssmb_scl走线，2号管脚和10号管脚接地。
41.实施例2
42.本实用新型实施例提供一种固态硬盘，所述固态硬盘的固态硬盘主板上配置除了配置用于进行数据传输的固态硬盘u.2接口外，还配置用于替代uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线的第一typec接口，所述第一typec接口连接所述固态硬盘主板上的用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线。
43.实施例3
44.本实用新型实施例提供一种调试小板，所述调试小板配置包括：第二typec接口、uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线，所述第二typec接口连接所述uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。
45.实施例2中的第一typec接口和实施例3中的第二typec接口通过typec连接线连接时，固态硬盘上用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线分别连接所述调试小板上的uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。
46.在本实用新型所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的结构，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的结构实施例仅仅是示意性的。
47.以上所述仅是本实用新型的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。
因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：

1.一种固态硬盘调试接口，其特征在于，包括：设置于固态硬盘主板上的第一typec接口和设置于调试小板上的第二typec接口；其中，所述第一typec接口连接所述固态硬盘主板上用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线；所述第二typec接口通过typec连接线与所述第一tpyec接口连接，所述第二typec接口将所述第一typec接口所接uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和mode信号走线分别连接到设置于所述调试小板的uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。2.根据权利要求1所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述第一typec接口的b2管脚、b3管脚分别连接所述uart信号走线中的uart_rx走线和uart_tx走线；所述第一typec接口的b8管脚和b11管脚分别连接所述i2c信号走线中的ssmb_sda走线和ssmb_scl走线；所述第一typec接口的a2管脚、a3管脚、a6管脚、a7管脚、a10管脚分别连接所述jtag信号走线中的jtag_tck走线、jtag_tdo走线、jtag_tms走线、jtag_tdi走线和jtag_trst_n走线；所述第一typec接口的a11管脚连接bmode信号走线；所述第一typec接口的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接地；所述第一typec接口的a8管脚接p3v3电源、b10管脚接p1v8电源。3.根据权利要求2所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述bmode信号走线上连接用于静电防护tvs管d6。4.根据权利要求1所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述第二typec接口的a11管脚、a10管脚分别经debug_uart_rx走线和debug_uart_tx走线连接所述uart接口；所述第二typec接口的a8管脚和a2管脚分别经debug_ssmb_sda走线和debu g_ssmb_scl走线连接所述i2c接口；所述第二typec接口的b11管脚、b10管脚、b6管脚、b7管脚、b3管脚分别经debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和debug_jtag_trst_n走线连接所述jtag接口；所述第二typec接口的b2管脚经debug_bmode信号走线连接所述bmode跳线；所述第二typec接口的b1管脚、a1管脚、b12管脚、a12管脚、g1-g6管脚接信号地；所述第二typec接口的b8管脚接p3v3_debug电源、a3管脚接p1v8_debug电源。5.根据权利要求4所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线和debug_jtag_trst_n走线分别经电阻耦合于所述jtag接口的5号管脚、3号管脚、10号管脚、1号管脚和14号管脚，其中，所述debug_jtag_tck走线、debug_jtag_tdo走线、debug_jtag_tms走线、debug_jtag_tdi走线分别经上拉电阻连接p1v8_debug电源，所述debug_jtag_trst_n走线经下拉电阻接地；所述jtag接口的2号管脚、4号管脚、6号管脚、12号管脚接地，11号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。6.根据权利要求4所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述bmode跳线的2号管脚连接所述debug_bmode信号走线，所述bmode跳线的1号管脚经上拉电阻连接p1v8_debug电源。7.根据权利要求4所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述uart接口的1号管脚连接p3v3_debug电源、2号管脚接地、3号管脚和4号管脚分别连接所述debug_uart_tx走线和debug_uart_rx走线。8.根据权利要求4所述的固态硬盘调试接口，其特征在于，所述i2c接口的3号管脚和1
号管脚分别连接debug_ssmb_sda走线和debug_ssmb_scl走线，2号管脚和10号管脚接地。9.一种固态硬盘，其特征在于，所述固态硬盘的固态硬盘主板上配置用于替代uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线的第一typec接口，所述第一typec接口连接所述固态硬盘主板上的用于调试的uart信号走线、i2c信号走线、jtag信号走线和bmode信号走线。10.一种调试小板，其特征在于，所述调试小板配置包括：第二typec接口、uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线，所述第二typec接口连接所述uart接口、i2c接口、jtag接口和bmode跳线。

技术总结

本实用新型涉及一种固态硬盘调试接口、固态硬盘和调试小板。所述的固态硬盘调试接口中，第一TYPEC接口连接固态硬盘主板上用于调试的UART信号走线、I2C信号走线、JTAG信号走线和MODE信号走线；第二TYPEC接口通过TYPEC连接线连接第一TPYEC接口，第二TYPEC接口将第一TYPEC接口所接UART信号走线、I2C信号走线、JTAG信号走线和MODE信号走线分别连接到设置于调试小板的UART接口、I2C接口、JTAG接口和BMODE跳线。本实用新型在固态硬盘主板上配置体积更小、管脚更多的第一TYPEC接口来汇总用于调试的UART信号走线、I2C信号走线、JTAG信号走线和BMODE信号走线，取代固态硬盘原众多调试接口，能够有效的释放固态硬盘主板上的空间。间。间。