一种显示面板及其测试方法与流程

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1.本发明涉及显示面板制造工艺技术领域，特别涉及一种显示面板及其测试方法。

背景技术：

2.显示面板在点亮阶段经常会进行相关信号的测试，但是受限于显示面板的空间，只能将测试个别信号的测试pad预留在显示面板上，而无法对显示面板的信号进行全面测试，这就造成部分需要的信号无法测试，影响从业人员的分析。
3.综上，目前亟需一种能够测试任意gate线和source线信号的显示面板及测试方法，从而给分析人员提供便利，能够快速定位问题，从而解决显示面板存在的技术问题。

技术实现要素：

4.现有的显示面板，只能将个别信号的测试pad预留，导致只能对个别信号进行测试，不利于技术人员快速定位显示面板存在的技术问题。
5.针对上述问题，提出一种显示面板及其测试方法，通过预先设置竖向测试线、横向测试线在扫描矩阵的外侧，且将竖向测试线、横向测试线分别设置在gate线的上方、source线的下方，在需要测试时将对应的gate线、source线分别与竖向测试线、横向测试线进行激光融合连接，通过预留的测试pad接口与对应的pad连接，就可以对任一个gate线、source线进行测试，解决了现有显示面板，只能对个别信号进行测试的问题。
6.第一方面，一种显示面板，包括：
7.扫描矩阵；
8.测试线；
9.所述扫描矩阵包括gate线、source线及显示ic；
10.所述gate线、source线分别与所述显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵；
11.所述测试线包括：
12.竖向测试线；
13.横向测试线；
14.所述竖向测试线设置在所述扫描矩阵的外侧，且与所述扫描矩阵中的source线平行，采用sd层金属布线在所述扫描矩阵中的gate线上方；
15.所述横向测试线设置在所述扫描矩阵的外侧，且与所述扫描矩阵中的gate线平行，采用gate层金属布线在所述扫描矩阵中的source线下方；
16.至少一个所述竖向测试线的一端与至少一个所述横向测试线的一端交错；
17.所述竖向测试线或者所述横向测试线中的一个或多个设置连接测试pad的预留接口。
18.结合发明所述的显示面板，第一种可能的实施方式中，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为1个；
19.所述横向测试线设置在所述显示面板的上方；
20.所述竖向测试线设置在所述显示面板的左侧或右侧；
21.所述竖向测试线的一端与所述横向测试线的一端交错重合；
22.所述竖向测试线或所述横向测试线的未交错重合的一端设置连接测试pad的预留接口。
23.结合发明第一种可能的实施方式，第二种可能的实施方式中，所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；
24.所述竖向测试线与要测试的gate线通过激光融合连接；
25.所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。
26.结合发明所述的显示面板，第三种可能的实施方式中，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为2个；
27.所述横向测试线设置在所述显示面板的上侧；
28.所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左侧和右侧；
29.所述横向测试线的两端分别与两侧的竖向测试线交错重合；
30.所述竖向测试线的未交错重合的一端分别设置连接测试pad的预留接口。
31.结合发明第三种可能的实施方式，第四种可能的实施方式中，所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；
32.所述竖向测试线分别与要测试的gate线通过激光融合连接；
33.所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。
34.结合发明所述的显示面板，第五种可能的实施方式中，所述横向测试线数量为2个，所述竖向测试线为2个；
35.所述横向测试线分别设置在所述显示面板的上、下两侧；
36.所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左、右两侧；
37.所述横向测试线与竖向测试线首尾交错重合，在所述扫描矩阵外侧围成一个矩形测试线；
38.所述横向测试线或者竖向测试线的首尾两端分别设置连接测试pad的预留接口，使得所述矩形测试线的四个角分别设置连接测试pad的预留接口。
39.结合发明第五种可能的实施方式，第六种可能的实施方式中，所述竖向测试线与所述横向测试线的首尾交错重合端通过过孔/激光融合连接；
40.所述竖向测试线分别与要测试的gate线通过激光融合连接；
41.所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。
42.第二方面，一种显示面板测试方法，用于对第一方面所述的显示面板进行测试，包括：
43.步骤100、将竖向测试线、横向测试线分别平行设置在扫描矩阵的外侧；
44.步骤200、将所述竖向测试线或者所述横向测试线中的一个或多个设置连接测试pad的预留接口；
45.步骤300、将所述竖向测试线与横向测试线的交错重合端连接，并将所述竖向测试线与横向测试线分别与要测试的gate线、source线激光融合连接；
46.步骤400、利用预留接口连接测试pad，对连接的gate线或source线进行测试；
47.其中，所述步骤100包括：
48.步骤110、利用所述gate线、source线分别与所述显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵；
49.步骤120、采用sd层金属将所述竖向测试线布线在所述扫描矩阵中的gate线上方；
50.步骤130、采用gate层金属横向测试线布线在所述扫描矩阵中的source线下方。
51.结合第二方面所述的显示面板测试方法，第一种可能的实施方式中，所述步骤300包括：
52.步骤310、将所述横向测试线设置在所述显示面板的上侧、将所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左侧和右侧；
53.步骤320、将所述横向测试线的两端分别与两侧的竖向测试线交错重合；
54.步骤330、将所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；
55.步骤340、将所述竖向测试线、所述横向测试线分别对应地与要测试的gate线、source线通过激光融合连接；
56.其中，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为2个。
57.结合第二方面所述的显示面板测试方法，第二种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
58.步骤350、将所述横向测试线分别设置在所述显示面板的上、下两侧，将所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左、右两侧；
59.步骤360、将所述横向测试线与竖向测试线首尾交错重合，在所述扫描矩阵外侧围成一个矩形测试线；
60.步骤370、将所述竖向测试线与所述横向测试线的首尾交错重合端通过过孔/激光融合连接；
61.步骤380、将所述竖向测试线、所述横向测试线分别对应地与要测试的gate线、source线通过激光融合连接；
62.其中，所述横向测试线数量为2个，所述竖向测试线为2个。
63.实施本发明所述的一种显示面板及其测试方法，通过预先设置竖向测试线、横向测试线在扫描矩阵的外侧，且将竖向测试线、横向测试线分别设置在gate线的上方、source线的下方，在需要测试时将对应的gate线、source线分别与竖向测试线、横向测试线进行激光融合连接，通过预留接口与对应的pad连接，就可以对任一个gate线、source线进行测试，解决了现有显示面板，只能对个别信号进行测试的问题。
附图说明
64.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
65.图1是本发明中一种显示面板第一实施例第一示意图；
66.图2是本发明中一种显示面板第一实施例的交错重合端放大示意图；
67.图3是本发明中一种显示面板第一实施例第二示意图；
68.图4是本发明中一种显示面板第二实施例示意图；
69.图5是本发明中一种显示面板第三实施例示意图；
70.图6是本发明中一种显示面板测试方法第一实施例示意图；
71.图7是本发明中一种显示面板测试方法第二实施例示意图；
72.图8是本发明中一种显示面板测试方法第三实施例示意图；
73.图9是本发明中一种显示面板测试方法第四实施例示意图；
74.附图中各数字所指代的部位名称为：100——显示面板、110——扫描矩阵、111——source线、112——gate线、121——横向测试线、122——竖向测试线、123——预留接口、124——交错重合端。
,具体实施方式
75.下面将结合发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的其他实施例，都属于本发明保护的范围。
76.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
77.现有的显示面板100，只能将个别信号的测试pad预留，导致只能对个别信号进行测试，不利于技术人员快速定位显示面板100存在的技术问题。
78.针对上述问题，提出一种显示面板100及其测试方法。
79.第一方面，一种显示面板100，包括扫描矩阵、测试线；扫描矩阵包括gate线112、source线111及显示ic；gate线112、source线111分别与显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵110。
80.本领域技术人员应当理解，显示面板100还包括完成基本功能的萤光管、导光板、偏光板、滤光板、玻璃基板、配向膜、液晶材料、薄模式晶体管等。
81.本技术主要对显示面板100的扫描矩阵的测试进行创新设计，以解决现有技术中存在的无法对全部gate线112、source线111进行测试的问题。
82.本领域技术人员应当理解，扫描矩阵110的gate线112相互平行，source线111相互平行，gate线112与source线111相互交叉垂直构成扫描矩阵110。
83.测试线包括竖向测试线122、横向测试线121；竖向测试线122设置在扫描矩阵110的外侧，且与扫描矩阵110中的source线111平行，采用sd层金属布线在扫描矩阵110中的gate线112上方；横向测试线121设置在扫描矩阵110的外侧，且与扫描矩阵110中的gate线112平行，采用gate层金属布线在扫描矩阵110中的source线111下方；至少一个竖向测试线122的一端与至少一个横向测试线121的一端交错；竖向测试线122或者横向测试线121中的一个或多个连接测试pad。
84.竖向测试线122设置在扫描矩阵110的外侧，横向测试线121设置在扫描矩阵110的外侧，竖向测试线122设置在扫描矩阵110左/右两侧边缘source线111的外侧，横向测试线
121设置在扫描矩阵110上下边缘gate线112的外侧。
85.竖向测试线122与横向测试线121的交错重合处可以通过过孔连接，也可以在测试的时候通过激光融合连接。
86.竖向测试线122与横向测试线121中的任一端均可以设置连接测试pad的预留接口123，连接测试pad对gate线112和source线111进行测试。
87.通过预先设置竖向测试线122、横向测试线121在扫描矩阵110的外侧，且将竖向测试线122、横向测试线121分别设置在gate线112的上方、source线111的下方，在需要测试时将对应的gate线112、source线111分别与竖向测试线122、横向测试线121进行激光融合连接，通过连接的测试pad就可以对任一个gate线112、source线111进行测试，解决了现有显示面板100，只能对个别信号进行测试的问题。
88.在一个实施方式中，如图1和图3，图1是本发明中一种显示面板100第一实施例第一示意图。
89.图3是本发明中一种显示面板100第一实施例第二示意图；横向测试线121数量为1个，竖向测试线122为1个。横向测试线121设置在显示面板100的上方；竖向测试线122设置在显示面板100的左侧或右侧；竖向测试线122的一端与横向测试线121的一端交错重合；竖向测试线122或横向测试线121的未交错重合的一端连接测试pad。
90.在本实施方式中，如图2，图2是本发明中一种显示面板100第一实施例的交错重合端124放大示意图；竖向测试线122与横向测试线121的交错重合端124通过过孔/激光融合连接；竖向测试线122与要测试的gate线112通过激光融合连接；横向测试线121与要测试的source线111通过激光融合连接。
91.竖向测试线122与横向测试线121在测试之前可以通过过孔连接，也可以不连接，在测试时根据需要将竖向测试线122与横向测试线121进行激光融合连接，以完成显示面板100测试。
92.优选地，在只有一条竖向测试线122和一条横向测试测试线的情况下，在未交错重合的一端设置连接测试pad的预留接口123，也即当竖向测试线122设置在扫描矩阵110的左侧时，在横向测试线121的右端和竖向测试线122的下端设置连接测试pad的预留接口123，当竖向测试线122设置在扫描矩阵110的右侧时，在横向测试线121的左端和竖向测试线122的下端设置连接测试pad的预留接口123。
93.竖向测试线122跨过所有的gate线112，采用sd层金属布线，将需要测试的gate线112与竖向测试线122通过激光融合技术进行融合连接，横向测试线121设置在所有的source线111的下方，采用gate层金属布线，将需要测试的gate线112与横向测试线121通过激光融合技术进行融合连接。
94.本领域技术人员应当理解，当测试pad设置在横向测试线121/竖向测试线122的未交错重合端124时，且横向测试线121与竖向测试线122在交错重合端124未连接时，为了能对所有的gate线112和source线111进行测试，可以在竖向测试线122与横向测试线121的交错重合位置进行激光融合连接，使得横向测试线121与竖向测试线122连接，以便完成对所有的gate线112和source线111测试。
95.在一个实施方式中，如图4，图4是本发明中一种显示面板100第二实施例示意图。
96.横向测试线121数量为1个，竖向测试线122为2个。
97.横向测试线121设置在显示面板100的上侧；竖向测试线122分别设置在显示面板100的左侧和右侧；横向测试线121的两端分别与两侧的竖向测试线122交错重合；竖向测试线122的未交错重合的一端分别连接测试pad。
98.在本实施方式中，竖向测试线122与横向测试线121的交错重合端124通过过孔/激光融合连接；竖向测试线122分别与要测试的gate线112通过激光融合连接；横向测试线121与要测试的source线111通过激光融合连接。
99.在本实施方式中，横向测试线121与竖向测试线122构成一个倒u型结构，倒扣在扫描矩阵110外侧，在显示面板100扫描矩阵110的两侧增加竖向测试线122，可以提高gate线112的测试精度。
100.虽然一条竖向测试线122和一条横向测试测试线也能对所有的gate线112和source线111进行测试，但是扫描矩阵110缺少测试线的一侧的靠近gate线112的输入信号情况无法准确获知。
101.在一个实施方式中，如图5，图5是本发明中一种显示面板100第三实施例示意图。
102.横向测试线121数量为2个，竖向测试线122为2个；横向测试线121分别设置在显示面板100的上、下两侧；竖向测试线122分别设置在显示面板100的左、右两侧；横向测试线121与竖向测试线122首尾交错重合，在扫描矩阵110外侧围成一个矩形测试线；横向测试线121或者竖向测试线122的首尾两端分别设置连接测试pad的预留接口123，使得矩形测试线的四个角分别设置连接测试pad的预留接口123。
103.在本实施方式中，竖向测试线122与横向测试线121的首尾交错重合端124通过过孔/激光融合连接；竖向测试线122分别与要测试的gate线112通过激光融合连接；横向测试线121与要测试的source线111通过激光融合连接。
104.在本实施方式中，横向测试线121与竖向测试线122构成一个矩形测试线结构，围合在扫描矩阵110外侧，在显示面板100扫描矩阵110的两侧及下侧增加竖向测试线122，可以提高gate线112的测试精度。
105.在本实施方式中，可以在所述矩形测试线结构的四个角分别预留连接测试pad的预留接口123，优选的，设置在下侧的横向测试线，设置在显示ic与最外侧gate线之间，对所有的gate线112、source线111及其输入信号进行测试，提高了测试精度，可以让测试人员迅速到显示面板100存在的问题。
106.虽然两条竖向测试线122和一条横向测试测试线也能对所有的gate线112和source线111进行测试，但是扫描矩阵110缺少测试线的下侧的靠近ic的输入信号情况无法准确获知。
107.第二方面，如图6，图6是本发明中一种显示面板100测试方法第一实施例示意图；一种显示面板100测试方法，用于对第一方面的显示面板100进行测试，包括：步骤100、将竖向测试线122、横向测试线121分别平行设置在扫描矩阵110的外侧；步骤200、将竖向测试线122或者横向测试线121中的一个或多个设置连接测试pad的预留接口123；步骤300、将竖向测试线122与横向测试线121的交错重合端124连接，并将竖向测试线122与横向测试线121分别与要测试的gate线112、source线111激光融合连接；步骤400、利用预留接口123连接测试pad，对gate线112或source线111进行测试；
108.其中，如图7，图7是本发明中一种显示面板100测试方法第二实施例示意图；步骤
100包括：步骤110、利用gate线112、source线111分别与显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵110；步骤120、采用sd层金属将竖向测试线122布线在扫描矩阵110中的gate线112上方；步骤130、采用gate层金属横向测试线121布线在扫描矩阵110中的source线111下方。
109.优选地，如图8，图8是本发明中一种显示面板100测试方法第三实施例示意图；步骤300包括：步骤310、将横向测试线121设置在显示面板100的上侧、将竖向测试线122分别设置在显示面板100的左侧和右侧；步骤320、将横向测试线121的两端分别与两侧的竖向测试线122交错重合；步骤330、将竖向测试线122与横向测试线121的交错重合端124通过过孔/激光融合连接；步骤340、将竖向测试线122、横向测试线121分别对应地与要测试的gate线112、source线111通过激光融合连接。
110.在本实施方式中，横向测试线121数量为1个，竖向测试线122为2个。
111.优选地，如图9，图9是本发明中一种显示面板100测试方法第四实施例示意图；步骤300包括：步骤350、将横向测试线121分别设置在显示面板100的上、下两侧，将竖向测试线122分别设置在显示面板100的左、右两侧；步骤360、将横向测试线121与竖向测试线122首尾交错重合，在扫描矩阵110外侧围成一个矩形测试线；步骤370、将竖向测试线122与横向测试线121的首尾交错重合端124通过过孔/激光融合连接；步骤380、将竖向测试线122、横向测试线121分别对应地与要测试的gate线112、source线111通过激光融合连接；
112.在本实施方式中，横向测试线121数量为2个，竖向测试线122为2个。
113.实施本发明的一种显示面板100及其测试方法，通过预先设置竖向测试线122、横向测试线121在扫描矩阵110的外侧，且将竖向测试线122、横向测试线121分别设置在gate线112的上方、source线111的下方，在需要测试时将对应的gate线112、source线111分别与竖向测试线122、横向测试线121进行激光融合连接，通过连接的测试pad就可以对任一个gate线112、source线111进行测试，解决了现有显示面板100，只能对个别信号进行测试的问题。
114.以上仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

技术特征：

1.一种显示面板，其特征在于，包括：扫描矩阵；测试线；所述扫描矩阵包括gate线、source线及显示ic；所述gate线、source线分别与所述显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵；所述测试线包括：竖向测试线；横向测试线；所述竖向测试线设置在所述扫描矩阵的外侧，且与所述扫描矩阵中的source线平行，采用sd层金属布线在所述扫描矩阵中的gate线上方；所述横向测试线设置在所述扫描矩阵的外侧，且与所述扫描矩阵中的gate线平行，采用gate层金属布线在所述扫描矩阵中的source线下方；至少一个所述竖向测试线的一端与至少一个所述横向测试线的一端交错；所述竖向测试线或者所述横向测试线中的一个或多个设置连接测试pad的预留接口。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为1个；所述横向测试线设置在所述显示面板的上方；所述竖向测试线设置在所述显示面板的左侧或右侧；所述竖向测试线的一端与所述横向测试线的一端交错重合；所述竖向测试线或所述横向测试线的未交错重合的一端设置连接测试pad的预留接口。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；所述竖向测试线与要测试的gate线通过激光融合连接；所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为2个；所述横向测试线设置在所述显示面板的上侧；所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左侧和右侧；所述横向测试线的两端分别与两侧的竖向测试线交错重合；所述竖向测试线的未交错重合的一端分别设置连接测试pad的预留接口。5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；所述竖向测试线分别与要测试的gate线通过激光融合连接；所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述横向测试线数量为2个，所述竖向测试线为2个；所述横向测试线分别设置在所述显示面板的上、下两侧；所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左、右两侧；
所述横向测试线与竖向测试线首尾交错重合，在所述扫描矩阵外侧围成一个矩形测试线；所述横向测试线或者竖向测试线的首尾两端分别设置连接测试pad的预留接口，使得所述矩形测试线的四个角分别设置连接测试pad的预留接口。7.根据权利要求/6所述的显示面板，其特征在于，所述竖向测试线与所述横向测试线的首尾交错重合端通过过孔/激光融合连接；所述竖向测试线分别与要测试的gate线通过激光融合连接；所述横向测试线与要测试的source线通过激光融合连接。8.一种显示面板测试方法，用于对权利要求1-7任一所述的显示面板进行测试，其特征在于，包括：步骤100、将竖向测试线、横向测试线分别平行设置在扫描矩阵的外侧；步骤200、将所述竖向测试线或者所述横向测试线中的一个或多个设置连接测试pad的预留接口；步骤300、将所述竖向测试线与横向测试线的交错重合端连接，并将所述竖向测试线与横向测试线分别与要测试的gate线、source线激光融合连接；步骤400、利用预留接口连接测试pad，对连接的gate线或source线进行测试；其中，所述步骤100包括：步骤110、利用所述gate线、source线分别与所述显示ic电连接，并垂直交错构成扫描矩阵；步骤120、采用sd层金属将所述竖向测试线布线在所述扫描矩阵中的gate线上方；步骤130、采用gate层金属横向测试线布线在所述扫描矩阵中的source线下方。9.根据权利要求8所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述步骤300包括：步骤310、将所述横向测试线设置在所述显示面板的上侧、将所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左侧和右侧；步骤320、将所述横向测试线的两端分别与两侧的竖向测试线交错重合；步骤330、将所述竖向测试线与所述横向测试线的交错重合端通过过孔/激光融合连接；步骤340、将所述竖向测试线、所述横向测试线分别对应地与要测试的gate线、source线通过激光融合连接；其中，所述横向测试线数量为1个，所述竖向测试线为2个。10.根据权利要求8所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述步骤300还包括：步骤350、将所述横向测试线分别设置在所述显示面板的上、下两侧，将所述竖向测试线分别设置在所述显示面板的左、右两侧；步骤360、将所述横向测试线与竖向测试线首尾交错重合，在所述扫描矩阵外侧围成一个矩形测试线；步骤370、将所述竖向测试线与所述横向测试线的首尾交错重合端通过过孔/激光融合连接；步骤380、将所述竖向测试线、所述横向测试线分别对应地与要测试的gate线、source线通过激光融合连接；
其中，所述横向测试线数量为2个，所述竖向测试线为2个。

技术总结

本发明公开了一种显示面板，包括：扫描矩阵、测试线；扫描矩阵包括Gate线、Source线及显示IC；Gate线、Source线分别与显示IC垂直交错构成扫描矩阵；测试线包括竖向测试线、横向测试线；竖向测试线与扫描矩阵中的Source线平行，采用SD层金属布线在扫描矩阵中的Gate线上方；横向测试线与扫描矩阵中的Gate线平行，采用Gate层金属布线在扫描矩阵中的Source线下方；至少一个竖向测试线的一端与至少一个横向测试线的一端交错；竖向测试线或者横向测试线中的一个或多个设置连接测试PAD的预留接口。还公开了一种测试方法。通过预先设置竖向测试线、横向测试线，通过预留接口与对应的PAD连接，就可以对任一个Gate线、Source线进行测试，解决了现有显示面板，只能对个别信号进行测试的问题。的问题。的问题。