成像原理  透射电镜的成象原理是由照明部分提供的有一定孔径角和强度的电子束平行地投影到处于物镜物平面处的样品上，通过样品和物镜的电子束在物镜后焦面上形成衍射振幅极大值，即第一幅衍射谱。这些衍射束在物镜的象平面上相互干涉形成第一幅反映试样为微区特征的电子图象。通过聚焦（调节物镜激磁电流），使物镜的象平面与中间镜的物平面相一致，中间镜的象平面与投影镜的物平面相一致，投影镜的象平面与荧光屏相一

扫描电镜和透射电镜的区别通俗的说扫描电镜是相当与对物体的照相得到的是表面的只是表面的立体三维的图象因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子而透射电竟就相当于普通显微镜只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光从而实现了显微是二维的图象会看到表面的图象的同时也看到内层物质就想我们拍的X光片似的内脏骨骼什么的都重叠着显现出来总结就是透射虽然能看见内部但是不立体扫描立体但是不能看

电子显微镜作业一、判断题1．俄歇电子是从距样品表面几个埃深度范围内发射的并具有特征能量的二次电子。（√）2．透镜光阑的作用是限制扫描电子束入射试样时的发散度。（×）吕氏春秋下贤3．改变扫描线圈锯齿波的振幅可改变扫描速度，改变扫描线圈电源锯齿波的频率可改变放大倍数。（×）4．扫描电子显微镜分辨本领的测定方法有两种：一种是测量相邻两条亮线中心间的距离，所测得的最小值就是分辨本领；另一种是测量暗区的宽度

SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITYSTEM模式下会聚角对HAADF图像的影响小组成员：丁晓飞、巨菡芝、陆郁飞、孙相龙、王昭光、张好好                    课程名称：显微学与谱学分析完成日期：2015年12月27日STEM模式下会聚角对HAADF图像的影响近2

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SEM+EBSD 技术在钢铁材料研究中的应用杨平北京科技大学材料学院，100083，北京摘要：随扫描电镜分辨率及自动化程度的提高，以及附加装置的增多，在SEM 下可完成更多的材料分析表征工作。本文介绍一些SEM+EBSD 技术在高锰钢及电工钢研究中的应用，表明SEM 与EBSD 技术的结合可完成许多过去只能在TEM 下完成的工作，如马氏体相变晶体学分析，特别是形变过程中的相变行为（包括形变诱发扩散

实验四  扫描电镜的结构原理及图像衬度观察停车场闸机一 实验目的  1 结合扫描电镜实物，介绍其基本结构和工作原理，加深对扫描电镜结构及原理的了解。  2选用合适的样品，通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬度原理及其应用。  3 利用二次电子像对断口形貌进行观察。二 实验原理1  扫描电镜基本结构和工作原理 

第八章 透射电镜样品的制备1、  复型样品（一级和二级复型）是采用什么材料和什么工艺制备出来的？答：复型试样是一种间接试样，它用中间媒介物（碳、塑料薄膜）把样品表面浮雕复制下来，利用透射电子的质厚衬度效应，通过对浮雕的观察，间接的得到材料表面的组织形貌。祛痘灵制备工艺：塑料一级复型，在制备好的金相样品表面滴几滴6%醋酸纤维素丙酮溶液，溶液在样品表面展平。待丙酮挥发后，样品表面留下一层10

扫描电镜的使用演示一、实验目的1）了解扫描电镜基本结构和工作原理。2）通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬底原理及其应用。二、扫描电镜的基本结构和工作原理    扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产行各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像

电子背散射衍射：当入射电子束在晶体样品中产生散射时，在晶体内向空间所有方向发射散射电子波。如果这些散射电子波河晶体中某一晶面之间恰好符合布拉格衍射条件将发生衍射，这就是电子背散射衍射。二、简答1、透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?答：三大系统：电子光学系统，真空系统，供电系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。2、照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？答：照明系统由电

X射线衍射分析思考题1. X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 什么叫"相干散射"、"非相干散射"?3. 产生X射线需要什么条件?4. 连续X射线谱是怎样产生的?其短波限由什么决定?5. 特征X射线谱是怎样产生的?为什么特征谱对应的波长不变?6. 试推导布拉格方程7. 什么是结构因子(结构振幅)? 结构因子表征了什么?8. 写出面心立方点阵中能产生衍射的前5个晶面(干涉面).9. 物

扫描电镜的基本结构和工作原理 扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产行各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。 扫描电镜所需的加速电压比透射电镜要低得多，一般约在 1～3

透射电镜样品制备的表面损伤和观察方法王岩国;丁力栋;顾建伟;闫征;胡民培【摘 要】由于电子与物质的强相互作用,从电子发出的2X107电子伏特的高能电子束能穿透的材料厚度也只有约300纳米,因此样品必须非常薄才适合使用透射电子显微镜进行观测.要制备非常薄的透射电镜样品需要经过包括机械研磨和离子溅射等一系列的减薄过程,这些过程均会对样品表面造成一定程度的损伤.表面损伤会影响对样品真实微结构的观测和表

透射电镜基本知识总结1、透射电镜基本构造：照明系统：电子和会聚镜（双聚光镜系统）成像系统：物镜、中间镜、投影镜记录系统：底片照相系统、图像观察增强器、CCD记录系统2、两种操作模式及其原理：成像模式：中间镜的物平面与物镜的像平面重合，获得正空间信息，最终获得显微像。衍射模式：中间镜的物平面与物镜的焦平面重合，获得倒空间的信息，最终获得衍射谱。利用电镜中的物镜光栏，仅选取透射束成像，成为明场像 (

第二部分  材料电子显微分析(TEM部分)一、名词解释分辨率      明场像      暗场像          景深 焦长        象差        球差